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供应半导体X射线膜厚测试仪
点击次数:145发布时间:2013/11/12 16:37:50
更新日期:2015/1/14 10:39:41
所 在 地:欧洲
产品型号:BA100
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详细内容
美国博曼膜厚仪俗称镀层测厚仪,膜厚测试仪,X-RAY膜厚仪等等) 主要检测金属镀层膜厚厚度的仪器,保证镀层厚度品质,减少电镀成本浪费 产品副名称:应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪 分析:详述.元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素,应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量:单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。