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半导体膜厚测试仪特价出售
点击次数：191发布时间：2013/11/12 16:55:41
更新日期：2015/1/14 10:29:35
所 在 地：欧洲
产品型号：BA100
优质供应
详细内容
博曼膜厚测试仪 可应用于在线膜厚测量,测氧化物,SiNx,感光保护膜和半导体膜.也可以用来测量镀在钢,铝,铜,陶瓷和塑料等上的粗糙膜层. 薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉,干涉的发生与膜厚及折光系数等有关,因此可通过计算得到薄膜的厚度.光干涉法是一种无损,精确且快速的光学薄膜厚度测量技术,薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。
半导体美国博曼（BOWMAN）X射线荧光膜厚测试仪
膜厚仪为快速且简便测量而设计。这一款经济型的仪器可以准确地和方便地在2个液晶显示器上显示镀层厚度的读数：一块大的位于前部面板，另一块位于上部面板。它独特的符合人类工程学设计的集成于仪器的恒压测量探头允许方便地单手操作，可以进行测量数据统计评估以及在10-20 m（33-66 feet）的距离范围内将测量数据在线或离线的无线传输至计算机的内置无线电发射器
膜厚测试仪被用来测量非导电涂层在非铁金属基材上的厚度以及非铁金属镀层和非导电涂层在铁或钢上的厚度。仪器能自动地识别被测材料并选择适合的测试方法。MP0理想的适合于测量： 非铁金属镀层（例如：铬，铜，锌等）在铁或钢上。 油漆、腊克和合成涂层在铁或钢上。 非导电涂层在非铁金属基材上，例如：油漆、腊克和合成涂层在铝、铜、黄铜、锌和不锈钢上。 铝的阳极氧化层。 深圳金霖以*优的服务．为您提供*佳的解决方案 让客户满意 。 愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图,有需要的朋友请联系
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