来自全国各地陶瓷、化工、稀土、医药等领域的130多名代表参加了本次活动。

贝士德仪器在技术交流会现场设置展台，展示了粉体材料表征相关的比表面积及孔径分析仪、真密度及孔隙率分析，总经理柳剑峰作了题为《比表面积及真密度表征方法的简介与应用》的专题报告。

中国颗粒学会 王体壮秘书长

“王秘书长对会议的成功召开给予了称赞和祝福，提醒企业家们做材料产业要注重科学，也要有情怀。”

丹东百特董青云董事长作为东道主，致辞欢迎远道而来的客人

大会报告总结

CONFERENCE GUESTS

报告1:中科院过程工程研究所李兆军研究员分享报告：“粉体的一致性评价与颗粒标准化工作”。

李老师指出，标准化的工艺才是成本的，尤其是做粉体生产，如果没有标准，就很难保证粉体的一致性。麦当劳通过前馈控制，采用统一的标准，保证*终成品的一致，这是值得我们粉体生产企业借鉴的案例。

报告2：中国地质大学丁浩 教授、博士生导师分享“颗粒复合与复合粉体功能化理论及实践”

丁老师报告中强调了，根据粉体下游客户的用途不同来进行颗粒复合，有目的地做粉体改性工作。的颗粒复合理论与方法，可以制造出低成本而功能性满足要求的新材料。

报告3：超细粉末国家工程研究中心副主任杨景辉博士“塑料工业常用粉体及表面改性”

杨博士以粉体长径比的标准对产品进行了分类，总结了分析了塑料常用粉体自身的物理特性及适用分散剂的种类。分散剂的选择是有一定成熟的理论的，有了科学的指导，会更容易找到合适的改性剂与改性工艺。

报告5：贝士德仪器科技（北京）有限公司柳剑峰董事长分享“粉体材料比表面积及真密度表征方法的简介及应用”

柳总在报告中解答了哪些材料需要测比表面积，如何测及应该注意的事项等问题。为仪器的购买和使用者给出指导建议。

报告7：上海理工大学蔡小舒教授、博士生导师分享“纳米粉体新型测量技术”

蔡教授根据企业的实际需求，从科研的角度提出了对纳米颗粒检测的新的方法和技术，为研发人员认识纳米颗粒提供了新的思维。

报告13：东北大学李新光教授分享“粉体水分检测的理论与实践”

李教授以解决实际问题入手，对各种在线水分测试理论与方法进行了评估，认为近红外水分检测是一种低成本又实用的方法。可以解决粉体工业生产中水分控制问题，起到节约成本的作用。

展示区掠影

参会人员大合照

总之，只有开放交流，扩大视野，我们的粉体材料才有前途。

作为本次会议的支持单位，贝士德仪器携公司主打产品：BSD-PS2型比表面及孔径分析仪，BSD-PM系列比表面积及微孔分析仪，BSD-BET400快速比表面积测试仪，BSD-TD真密度及氦孔隙率分析仪参展。

各系列设备迎来了行业内无数客户的参观和咨询，并获得了一致好评。不少客户在参观完后表示对贝士德仪器的设备很感兴趣，并提出实地参观要求，详谈合作计划。

BSD-PM1 高性能比表面积及微孔分析仪
Surface Area ａnd Microporous Analyzer

BSD-PM1高性能比表面积及微孔分析仪属于研究级仪器，可测试材料的比表面积、总孔容、孔径分布和吸附脱附数据，尤其可对微孔材料的孔径分布给出更准确测试结果，可升级为双站微孔测试功能，适用于对研发、实验要求极高的科研单位和企业用户。集装阀门和管路设计，模块化组装，保证仪器高真空度和高密封性，是高性能和高稳定性的典型产品。

BSD-PS2 比表面积及孔径分析仪
Surface Area Porosity Analyzer

BSD-PS2型比表面积及孔径分析仪，具有2个样品预处理脱气站，1个样品分析站。测试精度高、重现性好。重复性误差小于±1%。测试范围：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，样品类型：粉末，颗粒，纤维及片状材料等可装入样品管的材料。国内知名品牌，远销海外，获得多项国内技术,技术。

BSD-BET400?全自动快速比表面积仪
Auto Fast Specific Surface Area Analyzer

高效率：全世界测试效率高的比表面测试系统；BSD-BET400配合BSD-AD8八站预处理机，分析能力可达12个样品/小时，且包含30min预处理；

BET法：动态色谱法测试，符合国标，兼顾测试的高效率；

免标样：免标样，彻底消除标样影响，降低测试成本；

高稳定性：动态色谱法具有独特的高稳定性，适合工业质量控制；

高分辨率：对于中小比表面样品，适用于电池材料、金属粉末、有机粉体等材料的比表面快速分析。

?恒温体积定量管（）：处于恒温状态的体积定量管，不受环境温度影响，是高稳定性的保证；

?液氮温度检测（）：通过液氮温度检测技术，消除液氮纯度因素的影响；

BSD-TD-K 全自动真密度及孔隙率分析仪
Automatic True Density & Porosity Analyzer

BSD-TD-K系列全自动真密度分析仪由计算机控制全自动运行的气体膨胀真密度分析系统，具有多项技术，独创的测试方式，使其应用领域较同类仪器更广，能准确测定粉体、块状固体、浆状物质、泡沫等多种材料的真密度和孔隙率，适用于广大研究机构和企事业单位。

测试精度：标准铝柱精确度优于±0.03%，标准铝柱重复性优于±0.015%，分辨率：0.0001g/ml

测试速度：1-2min完成一次测试过程(不含恒温时间)，双站分析效率提高一倍。程序自动连续测试6次，取平均值。

恒温模式：全自动程序化恒温模式，程序化控制恒温过程，并自动进入测试过程。此恒温模式为可选；