何为HALT？
  是一种利用阶梯应力加诸于试样，并在早期发现产品缺陷、操作设计边际及结构强度限的方法。试样通过HALT所暴露的缺陷，涉及线路设计、工艺、元部件和结构等方面。HALT的主要目的是在产品设计和试产阶段，通过试验，快速发现产品的潜在缺陷，并加以改进和验证，从而增加产品的限值，提高其坚固性及可靠性。施加于被测样品的应力，包括振动、高低温、温度循环等。

  现已成为电子业界的标准产品验证方法。它将原需花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周，且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致，所以HALT的试验方式已成为新产品上市所必需通过的验证。