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G150M型平面干涉仪:专为计量级测试的需求设计，适用于计量机构检定和校准光学平晶。其集高性能、长寿命氦氖激光器，1-6.7倍图像放大功能，高精度的成像系统和图像采集系统，精密平面标准镜等一系列高精技术，通过优化光学系统和机械系统结构，实现高精密平面光学元件的测量。选配静态干涉条纹分析软件，实现数字化测量。
G150S为G150M:的简化版本，适合光学车间的现场检验。
主要用途：平面类光学元件（包括玻璃、金属、陶瓷等）表面面形、光学平行度和材料均匀性的测试；准直系统波前质量的测试。
仪器规格参数表
仪器特点
| 产品型号 | G150M | G150S |
| 有效通光口径 | 152.4mm（6英寸） | |
| 测量方式 | 菲索干涉原理 | |
| 光源 | 氦氖激光（632.8nm） | 半导体激光器（635nm） |
| 连续变焦倍数 | 1-6.7倍 | 固定倍率 |
| 光路切换 | 对准（十字叉丝）与测试（干涉场）模式电控切换 | |
| 显示方式 | 计算机或独立监视器实时显示 | 监视器实时显示 |
| 平面透过标准镜 | PV：优于λ/20，可定制更高精度标准镜 | |
| 平面反射标准镜 | 标配 | 选配 |
| 衰减过滤片 | 标配 | 选配 |
| 仪器尺寸(长X宽X高) | 500X500X1070mm | |
| 仪器重量 | 80KG | |
| 电源 | AC100-240V 50/60Hz | |
| （附注：更大口径平面干涉仪可依据客户需求定制） | ||
仪器特点
| ◇ 精度高：标准镜精度高，且材料经过精密退火处理，稳定可靠；
◇ 调整方便：可通过切换开关选择对准与干涉场两种显示模式，方便调整；
◇ 条纹真实：优良的光学设计，精密的系统装保证得到清晰、准确、真实的干涉条纹；
◇ 性能优良：仪器具备良好的隔振性能，适合光学加工现场使用；
◇ 配件丰富：标配密封罩，可将测试腔与外界气流隔离，降低测试过程中气流扰动，提高判断的准确性。配合衰减过滤片，可以测量镀高反膜元件。 |
