射频导纳物位控制器/XR97-COMPARA-TIVE射频导纳物位控制器   概述

    射频导纳物位控制器/XR97-COMPARA-TIVE射频导纳物位控制器射频导纳式物位控制器是利用高频技术，由电子线路产生个小功率射频信号于探头上，探头作为敏感元件，将来自物位介电常数引起的信号变化反馈给电子线路；由于这些变化包括电容量和电导量的变化，因而电子线路处理的是容抗和阻抗的综合变化信号；进行处理后改变继电器的输出状态。它是在原电容测量的基础上改进射频导纳测量技术，代表了当物位测量的新水平。

射频导纳物位控制器/XR97-COMPARA-TIVE射频导纳物位控制器特性：

校准简单快捷、安装方便、外形美观、产品性能稳定、防粘附（挂料）、各种型号通用性强，适用性广泛，可与PLC可编程控制器或DCS集散控制系统配套使用，实现工艺流程的自动检测和自动控制。

工作电源 DC24V；AC220V  
功   耗 4W 
相对湿度 ≤85% 
输出信号 两组常开、常闭触点 
触点容量 AC220V 5A; DC24V 3A 
环境温度 -40℃~+60℃ 
介质温度 见探头表 
探头材质 不锈钢、聚四氟乙烯、工程塑料、陶瓷 
防爆等 ExdibIICT5      ExdIIBT4 
防护等 IP65 
连接方式 3/4″NPT螺纹料仓开口Φ33；1-1/4″管螺纹料仓开口Φ46
法兰（可选）； 方探头305x305；
圆探头Φ160  
安装方式 顶装、侧装 
校    准 二步手动校准 
出线口 M20x1.5 
    射频导纳式物位控制器是利用高频技术，由电子线路产生个小功率射频信号于探头上，探头作为敏感元件，将来自物位介电常数引起的信号变化反馈给电子线路于这些变化包括电容量和电导量的变化，因而电子线路处理的是容抗和阻抗的综合变化信号,采用相位检测技术将这种变化检测出来，进行处理后改变继电器的输出状态。它是在原电容测量的基础上改进为射频导纳测量技术，代表了当物位测量的新水平。可用于测量导电及不导电物体。常用有标准型、重型探头型、耐高温用陶瓷探头型、堵料开关、堵煤开关等等。    射频导纳物位仪表是种从电容式物位测量技术发展起来的，防挂料、更可靠、更准确、适用性更广的物位控制技术，射频导纳中的导纳的含义为电学中阻抗的倒数，它由电阻性成分、电容性成分、电感性成分综合而成。而射频即发射高频无线电波，所以射频导纳物位控制技术是通过用高频无线电波测量被测介质导纳来实现物位测量。
    射频导纳技术与电容式技术zui重要的区别在于测量量的多样化和三电技术。射频导纳测量量的多样化在于不止是测电容量，还有电阻和电感量，是测量更加准确。三电技术包括电子单元和传感器，在测量电和地之间加入屏蔽电，将测量电保护起来，不受挂料影响。