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介电常数介质损耗测定仪质量优

点击次数:110发布时间:2020/4/15 9:49:38

介电常数介质损耗测定仪质量优

更新日期:2020/4/15 9:49:38

所 在 地:

产品型号:ZJD-B北京

简单介绍:ZJD-B型介质损耗及介电常数测试仪是我公司*新一代通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器。它以单片计算机作为仪器的控制、测量核心,真正实现了介质损耗及介电常数测试仪的数字化,电容、电感、Q值、信号源频率都在一个液晶屏上展示出来。在你操作时,再也不用去注意量程和换算单位。在任何频率下,只要能找到谐振点,都能直接读出电感、电容值,大大扩展了电感的测量范围,而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。采用DDS数字直接合成方式的内部信号源,具有信号失真小,频率精确、信号幅度稳定的优点,更保证了测量精度的精确性。另外还采用了标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程手动或自动转换,自动稳幅等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至,使得新表在使用时更为方便,测量值更为精确。

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LJD-B/LJD-C介电常数及介质损耗测定仪双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。介电常数及介质损耗测定仪自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的准确、幅度的高稳定。介电常数及介质损耗测定仪计算机自动修正技术和测试回路化 —使测试回路 残余电感减至低,彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。电感测试时,设备自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能,提高了电感值(特别是小电感值)测量的精度。此功能为北京中航鼎力公司生产的Q表D创。大电容值直接测量显示功能,电容值直接测量值可达2.5uF/25nF(配100uH电感时)。此功能为北京中航鼎力公司生产的Q表D创。

主要技术特征:

Q 值测量范围: 2 ~ 1023,量程分档:30、100﹑300﹑1000,自动换档或手动换档

固有误差:≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ),≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)

工作误差:≤ 7 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ),≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)

电感测量范围:4.5nH ~ 140mH

电容直接测量范围: 1 ~ 200pF

主电容调节范围:18 ~ 220pF

主电容调节准确度:100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 %

信号源频率覆盖范围:100kHz ~ 160MHz

频率分段( 虚拟 ):100 ~ 999.999kHz, 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz,100 ~ 160MHz

频率指示误差:3 × 10 -5 ± 1 个字


ASTM D150-11

实心电绝缘材料的交流损耗特性和

电容率介电常数的标准试验方法1

本标准是以固定代号D150发布的。其后的数字表示原文本正式通过的年号;在有修订的情况下,为上一次的修订年号;圆括号中数字为上一次重新确认的年号。上标符号(ε)表示对上次修改或重新确定的版本有编辑上的修改。
    本标准经批准用于国防部所有机构。
1.范围
1.1 本试验方法包含当所用标准为集成阻抗时,实心电绝缘材料样本的相对电容率,耗散因子,损耗指数,功率因子,相位角和损耗角的测定。列出的频率范围从小于1Hz到几百兆赫兹。

注1:在普遍的用法,“相对”一词经常是指下降值。

1.2 这些试验方法提供了各种电极,装置和测量技术的通用信息。读者如对某一特定材料相关的议题感兴趣的话,必须查阅ASTM标准或直接适用于被测试材料的其它文件。2,3

1.3  本标准并没有完全列举所有的安全声明,如果有必要,根据实际使用情况进行斟酌。使用本规范前,使用者有责任制定符合安全和健康要求的条例和规范,并明确该规范的使用范围。特殊危险说明见7.2.6.1和10.2.1。

1 本规范归属于电学和电子绝缘材料ASTM D09委员会管辖,并由电学试验D09.12附属委员分会直接管理。

当前版本核准于2011年8月1日。2011年8月发行。原版本在1922年批准。前一版本于2004年批准,即为 D150-98R04。DOI:10.1520/D0150-11。

2 R. Bartnikas, 第2章, “交流电损耗和电容率测量,” 工程电介质, Vol. IIB, 实心绝缘材料的电学性能, 测量技术, R. Bartnikas, Editor, STP 926,ASTM, Philadelphia, 1987.

3 R. Bartnikas, 第1章, “固体电介质损耗,” 工程电介质,Vol IIA, 实心绝缘材料的电学性能: 分子结构和电学行为, R. Bartnikas and R. M. Eichorn, Editors, STP 783, ASTM, Philadelphia, 1983.

2.引用文件
2.1 ASTM标准:4

D374     固体电绝缘材料厚度的标准试验方法

D618     试验用塑料调节规程

D1082    云母耗散因子和电容率(介电常数)试验方法

D1531    用液体位移法测定相对电容率(介电常数)与耗散因子的试验方法

D1711    电绝缘相关术语

D5032    用饱和甘油溶液方式维持恒定相对湿度的规程

E104     用水溶液保持相对恒定湿度的标准实施规程

E197     室温之上和之下试验用罩壳和服役元件规程(1981年取消)5

3.术语

3.1 定义:

3.1.1 这些试验方法所用术语定义以及电绝缘材料相关术语定义见术语标准D1711。

3.2 本标准专用术语定义:

3.2.1 电容,C,名词——当导体之间存在电势差时,导体和电介质系统允许储存电分离电荷的性能。


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