双板四探针电阻测试仪BEST-300F
.参照标准：
GB/T 20042.6-2011质子交换膜燃料电池 第6部分：双板特性测试方法中四探针低阻测量和接触电阻测试方法及要求；

二.参数资料
1.方块电阻范围：10-6～2×102Ω/□  
2.电阻率范围：10-7～2×103Ω-cm
3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
4.电流精度：±0.1%读数
5.电阻精度：≤0.3%
6.PC软件界面：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率、电阻率、压强等.
7.测试方式: 四探针测量（体电阻率）和四端法（接触电阻测量）
8.压力范围：0-1000kg（0-4MPa）.
9. 样品形状为正方形（镀金电为5cm×5cm)，面积为25cm2（其他规格定制）
10.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W
11. 加压方式：自动
12. 样品高度量程和精度：高度测量范围：0.001-10.001mm，测量分辨率0.001mm
13.温湿度范围：常温-50度；湿度：20%-98%
14.恒压时间：0-99.9S
15.标配标准件：a.标准校准电阻1个；b.标准高度校准件1个
16. 工作电源：220±10% 50HZ/60HZ
17.标配外选购：电脑和打印机依据客户要求配置；    计量证书1份配套方案：解决各材料状态 －－固态、液态、气态、颗粒状 电阻、电阻率、电导率测量－－－－解决材料：
导体、半导体、绝缘材料常温及高温等环境下电性能分析.
四端测试法是目较之测试方法，主要针对高精度要求之产品测试；本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的种重要的工具。标准分类中，四探针法涉及到半导体材料、金属材料试验、绝缘流体、兽医学、复合增强材料、电工器件、无损检测、集成电路、微电子学、土质、土壤学、水质、电子显示器件、有色金属。在中国标准分类中，四探针法涉及到半金属与半导体材料综合、金属物理性能试验方法、、、电工合金零件、特种陶瓷、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、电阻器、半导体集成电路、工程地质、水文地质勘察与岩土工程、水环境有毒害物质分析方法、电工材料和通用零件综合、半金属、元素半导体材料、金属无损检验方法。
GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定.直排四探针法
GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
GB/T 6617-1995 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电导率单位自动选择，BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成图表和报表。本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.