1、存储器块清零
2、二进制BCD码转换
3、二进制ASCII码转换
4、程序跳转表
5、内存块移动
6、数据排序
7、P1口输入、输出实验
8、继电器控制实验
9、用74LS245读入数据实验
10、用74LS273输出数据实验
11、串行数据转换并行数据实验
12、并行数据转换串行数据实验
13、PWM转换电压实验
14、音频控制实验
15、8255输入、输出实验
16、8155输入、输出实验
17、5LED静态串行显示实验
18、6LED动态扫描显示实验
19、查询式键盘实验
20、阵列式键盘实验
21、计数器实验
22、定时器实验
23、8253定时器实验
24、外部中断实验
25、串行口通讯实验
26、ADC0809模数转换实验
27、DAC0832数模转换实验
28、MC14433模数转换实验
29、EEPROM外部数据程序存储器实验
30、SRAM外部数据存储器扩展实验
31、93C46串行EEPROM数据读写

32、电子时钟实验
33、电子琴模拟实验
34、微型打印机控制实验
35、汽车转弯信号灯模拟实验
36、温度传感器温度控制实验
37、温度过程控制实验
38、五相步进电机实验
39、计算器实验
40、数字频率计实验
41、V/F 转换实验
42、F/V转换实验
43、LED点阵显示实验
44、字符型液晶显示实验
45、8279键盘显示实验
46、看门狗实验
47、8251串行口扩展通信实验
48、I 2C总线实验
49、232转485实验
50、UTYKJ接口实验
51、十字路口交通灯实验
52、五功能逻辑笔实验
53、直流电动机驱动调速实验（实物）
54、步进电机驱动（实物）
55、IC卡读写实验
56、实时时钟/日历控制实验
57、语音芯片控制实验
58、LIN总线接口的多机通信实验
59、以太网测控实验
60、CAN总线接口的多机通信实验
61、单片机与CPLD实验