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应用：
直线度检测
平面度检测
几何公差测量
硅晶片的厚度测量
量块校准
直线导轨的误差测量
计量和生产控制
量块校准和测量设备的检查
多点检测设备
位置测量
产品规格
规 格：NT 12; NT 30
测量范围：12 mm; 30 mm
分 辨 率：0.05µm; 0.1µm; 0.2µm; 0.5µm; 1.0µm
移动速度：Max: 72m/min
参考点位置：上极限以下 5 ± 0.5mm 处
精度等级：±1 µm
测杆驱动方式：手 动 / 气 动
防护等级：IP 64
输出信号：1Vpp/11µApp/RS 422
电源电压：DC 5V±10%
线 长： 标准: 1.5m (Max: 30m )
产品优点
全行程测量精度高— ± 1 µm
重现性高— 0.05 µm
专为工业环境设计—防护等级IP64
结构紧凑，安装方便快捷
多种结构配置可供选择
坚固的设计—高的机械和热稳定性
为多点式测量设备特别设计
简化检测装置的构造
无需反复校准，测量稳定
球型探头可承受较大的径向力且摩擦力很小
主要市场
半导体设备，各种需要高精度、小行程的检测设备
原厂网站：www.numerikjena.de
