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FN-II降落数值仪为我们研究谷物质量提供了方法

点击次数:429发布时间:2015/7/30 16:41:47

FN-II降落数值仪为我们研究谷物质量提供了方法

更新日期:2015/7/30 16:41:47

所 在 地:中国大陆

产品型号:

简单介绍:FN-II降落数值仪为我们研究谷物质量提供了方法 在农植物的生长过程中,总是会或多或少的遇到一些问题导致植物的存活率和质量下降,然而对于植物的损伤程度和农植物的用途,并不能够简单地从肉眼观察,即使进行部分抽样检测也未必能够实现精准的结果。所以降落数值仪的出现,很好的为我们检测农植物的质量提供了工具。

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 FN-II降落数值仪为我们研究谷物质量提供了方法 

在农植物的生长过程中,总是会或多或少的遇到一些问题导致植物的存活率和质量下降,然而对于植物的损伤程度和农植物的用途,并不能够简单地从肉眼观察,即使进行部分抽样检测也未必能够实现精准的结果。所以降落数值仪的出现,很好的为我们检测农植物的质量提供了工具。

FN-II降落数值仪是浙江托普仪器按照国家标准GB/T 10361-2008《小麦、黑麦及其面粉,杜伦麦及其粗粒粉 降落数值测定法》并结合国外产品的优点制造的测定谷物中淀粉酶活性的专用仪器,可用于准确判断谷物的发芽损伤程度,适用于谷物,尤其是小麦和小麦粉的测定,是粮食储藏、面粉加工等领域中进行质量检测的必备仪器。

本公司主要出于对食品安全和质量的考虑,严格按照国家政府和粮油行业的章程,研发了这款降落数值仪检测面粉质量的仪器,从根本上监控面粉的质量,按照面粉的等级决定其用途,不仅提高了产品质量,而且还提高了面粉利用率。

仪器名称:降落数值仪

仪器型号:FN-II

更多详情:

降落数值仪 http://www.grain17.com/yq_class/yq_261_1.html

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