产品展示
全球资源整合！SFL-T SFL-T SFL-T SFL-T/郭小燕130668
点击次数：8发布时间：2014/9/16 20:40:15
更新日期：2014/9/16 20:40:15
所 在 地：中国大陆
产品型号：SFL-T
相关标签：SFL-T
优质供应
详细内容
全球资源整合！SFL-T SFL-T SFL-T SFL-T/郭小燕13066807555
您的满意是我的追求!
给我一个机会,我会还你一个惊喜!
承诺力求更可靠,服务力求更优质!
买仪器上百度/谷歌郭小燕13066807555（24小时热线）
品牌:安捷伦 | Agilent | 惠普 | HP
测量速度:6.5ms/10ms/21ms
测量参数:C-D,Q,ESR,G
C-D测量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)
0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
Agilent 4278A 1kHz/1MHz电容测试仪是一台高速高可靠的精密测试仪器，用于生产线和质量控制中作电容器的进出厂检。Agilent 4278A 能改善小电容量和中等电容器的测试效率（可测量以200μF，这个电容量能容纳多数陶瓷和薄膜电容器的数据值）。
技术指标：
测量参数
C-D，Q，ESR，G
测试信号
频率：
1kHz和1MHz±0.02%
信号电平：
0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步进
测量时间：
6.5ms/10ms/21ms(典型值）
测量范围
测量参数
1kHz
1MHz正常模式
1MHz高精度
C
0.01pF~200.000μF
0.00001pF~1280.00pF
0.00004pF~2663.00pF
D
0.00001~9.99999
0.00001pF~9.99999
0.00001pF~0.99999
电缆长度补偿
0,1或2m
比较器：
对电容的10仓室分类，对D、Q、ESR和G的合格/不合格测试
存储卡插槽
外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用（存储卡可任选，参见下面的选件004）。
技术指标：
测量参数
C-D，Q，ESR，G
测试信号
频率：
1kHz和1MHz±0.02%
信号电平：
0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步进
测量时间：
6.5ms/10ms/21ms(典型值）
测量范围
测量参数
1kHz
1MHz正常模式
1MHz高精度
电缆长度补偿
0,1或2m
比较器：
对电容的10仓室分类，对D、Q、ESR和G的合格/不合格测试
存储卡插槽
外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用（存储卡可任选，参见下面的选件004）。
一般技术指标：
工作温度/湿度
5°~45℃，在40℃时相对湿度为95%
•4278A 1kHz/1MHz电容测试仪
Opt W30 扩大的维修服务
Opt 001 只1kHz测试频率
Opt 002 只1MHz测试频率
仪器销售/租赁：
步骤一：联系我们
通过电话, 电邮, 传真(13066807555)及亲自到我们公司和业务人员接洽.
我们会协助你选择合适的 仪器配置和数量.
我们将根据你的需要定做适合你的租赁条款.
步骤二：付款及运送
通过电邮或传真, 把 仪器订单发送到我们公司.
当仪器送到时, 客户必须缴付个月的租金及订金.
第二个月或以后的租金必须在每个月的月初预缴.
步骤三：问题解答
在租赁期间仪器如果有任何的问题或疑问, 你可以随时与我们联系.
步骤四：更改租赁条款在 仪器租赁期结束前, 你可以随时延长或缩短租赁期限.
步骤五：包装及退回
客户请先检查仪器 仪器, 并将所有的配件和说明书包好.
联系我们安排回收.
提供运
