温度传感器特性和半导体制冷温控实验仪

上海实博实业有限公司

温度传感器特性和半导体制冷温控实验仪WT－1A
一、概述
温度传感器的特性测量是高校理工科中的一个基本物理实验，温度的测量和控制在科研和生产实践上具有重要意义。本实验仪器采用温度传感器实时测量，由半导体制冷器控制温度的变化，形成温度可调的实验环境。

与传统的温控相比具有以下特点:

1、可以把温度降至室温以下。

2、精确温控：使用闭环温控电路，精度可达±1°C。

3、高可靠性：致冷组件为固体器件，无运动部件，因此失效率低。寿命大于二十万小时。

4、工作时无声：与机械制冷系统不一样，工作时不产生噪音。所以本实验仪使用安全，实验方便，升温或降温快速，控温精确，可在同一温度点上同时测量四种实验样品的物理参数，因此有利于不同样品的参数对比，是研究热敏电阻和集成温度传感器特性的理想实验设备。

二、实验内容

1、测量NTC热敏电阻器的电阻与温度关系特性，计算热敏电阻材料常数B。

2、PTC热敏电阻器的电阻与温度关系特性，计算热敏电阻材料常数B

3、测量AD590集成电路温度传感器的电流I与温度的关系

三、仪器组成及技术指标

1）实验装置温度范围：-2.0℃－－+72.0℃,四位数码管显示。

2）温度设定范围为-5.0℃-75.0℃，四位数码管显示。

3）实测实验样品温度稳定度：±0.1℃±1字。

4）实验样品4种：NTC、PTC热敏电阻、PN结和AD590电流型集成温度传感器。

5）电源输入AC220±10%，50Hz ，功耗<60W

6）放样品最大：H6*20*20mm

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