电机、线圈衰减震荡波形测试图

简述Recapitulate YG211_01/02/03/05/10 型性能特点Features 脉冲式线圈测试仪（即数字式匝间仪）可高效的、非破坏性的对有线圈绕组的部件进行电气试验。其原理是对标准线圈绕组和被测试绕组施加相同的脉冲电压，比较两者的瞬态波形，以测试被测线圈的品质。瞬态波形也就是线圈内发生的衰减振荡的波形，他可同时判断该绕组的电感、品质因素、绕组的圈数差及匝间短路情况，在有铁芯的情况下，还可以判断其材质的差别等。在施加高压脉冲的情况下，电晕放电的发生还可以对绝缘不良进行判断。总之，标志线圈品质的各个要素，可以在极短时间内检查完成。 YG211 系列脉冲式线圈测试仪，采用专利技术的高稳定性高压冲击电源，大幅提高了仪器测试准确度。仪器通过微型计算机技术把波形的各种参数量化处理，再用直观的波形进行显示和判断，操作简单，判断准确，自动化程度高。该仪器体积小，重量轻，便于携带。冲击波形实例：图1.1-1线圈衰减振荡波形分析 l 采用专利技术的高稳定性高压冲击电源和可控硅模块控制的高压开关器件，大幅度提高了产品的稳定性、可靠性。（完全避免了第一代模拟产品“充气氢闸管”、“示波管”等造成的稳定性差，开机预热时间长，寿命短，易老化等问题。） l 采用先进的数字信号处理技术 l 四种波形比较方法快速判断线圈品质 l LCM液晶模块显示，人性化操作界面，简单易学 l 比较结果直接显示，并有多种声响报警方式可选择 l 体积小，重量轻 工作原理 YG211 系列脉冲式线圈测试仪以MCU 中央信息处理系统为核心，由它控制高压脉冲发生器对线圈施加一次极短时间的高压脉冲，线圈在脉冲作用下产生自由衰减振荡,其瞬态波形的模拟信号经由CPLD 可编程逻辑器件控制的高速A/D转换器转换成数字信号,然后反馈至MCU中央信息处理系统进行时间、电晕量、面积、相位等参数的运算，处理结果保存在MCU信息处理系统的电子存储器中，并用直观易懂的文字、数据__________及图形显示在240×320点阵液晶模块LCM上，从而保证了波形重现的真实性。并且根据用户设定的条件,对合格或不合格者进行报警处理。线圈质量检查判断方法图1.3.2_1：波形面积比较在任意指定的区间内，对标准线圈和被测线圈波形面积进行比较。如图1.3.2_1 所示，计算出A-B区间内的面积，判定两者面积相差的程度。判定的标准用百分比（％）进行设定，计算结果在范围内的为合格品。区间内面积的大小，大体与线圈内能量损耗成比例，故能以此判断能量损耗的大小。例如被测线圈有匝间短路时，短路部分的反映是能量的损失增大。图1.3.2_3：波形电晕量比较在任意指定的区间内，对被测线圈的电晕放电量与设定值进行比较。如图1.3.2_3所示，基本忽略波形差异，在任意指定的A-B区间内，仅在被测线圈实测波形包含的电晕放电尖峰中检出高频成分进行面积(积分)计算，并将计算结果与设定值进行比较，判定电晕放电量是否合格。可以认为该量是模拟方式中检出的通过高频滤波器的量值。图1.3.2_2：波形面积差比较在任意指定区间内，对标准线圈和被测线圈波形偏差部分的面积与标准线圈波形面积进行比较。如图1.3.2_2 所示，计算出A-B 区间内面积差，对比标准波形（同图1.3.2_1）判定偏差的程度。判定的标准用百分比（％）进行设定，结果在范围内的为合格品。波形偏差面积的大小表示电感值及能量损耗程度的总和。此方法可较全面地检查线圈的电感L值及能量损失。图1.3.2_4：波形相位比较对标准线圈和被测线圈的波形相位相应过零点（A、B）的差值与设定值进行比较。如图1.3.2_4 所示，以指定的标准波形的过零点A 为基础，与被测线圈实测波形相应的过零点B 相差的点数作为判定依据，并将计算结果与设定值进行比较，判定波形相位是否合格。由于波形相位与线圈的电感L 密切相关，此方法可偏重于检查线圈的电感L值。附件 YG221_01 高压测试电缆 YG221_02 脚踏启动开关选件 YG222_2 2通道切换器 YG222_2A 2通道切换器A YG222_2B 2通道切换器B YG222_3 3通道切换器 YG222_3A 3通道切换器A YG222_3B 3通道切换器B YG222_3C 3通道切换器C YG222_4 4通道切换器