CMI900系列X射线荧光测厚仪

CMI900系列X射线荧光测厚仪

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关键字：测厚仪，膜厚仪，涂层厚度，CMI 233测厚仪，电镀测厚，CMI150测厚仪,X射线荧光测厚仪

品牌：OXFORD CMI(英国牛津)

简介：

□适用范围：CMI900系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等，涉及到其它仪器不能检测的测试领域。

□服务优势：具有最多的服务网点和强大的技术支持

□测量精度：1%或±0.1μm依照参考标准片，分辨率：0.01mils(0.25μm)

□测量范围：磁感应0-120mils(0-3.05mm)；涡流0-60mils(0-1.52mm)

用途：广泛应用于喷涂电镀等表层厚度的测量

 
 产品介绍 
订购编号：20709 CMI900 / 20710 CMI950

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对CMI900/950主机的全面自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。

CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：

● 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。

● 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。

● 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。

● 程控样品台：XYZ轴自动控制。

● 超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。

CMI950系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。同样，CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为：

● 全程控样品台：XYZ三轴程序控制样品台，可接纳的样品最大高度为150mm，XY轴程控移动范围为300mm x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。

● Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品最大高度为270mm。

● 全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品最大高度为356mm。

可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。
 
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