组合型植物图像分析仪系统

LA-S组合型植物图像分析仪系统性能指标：
1、叶分析测量参数：可全自动地大批量分析计算叶面积，并以叶片目标边缘标记来核对其正确性。可同时分析多张叶片面积，及分析小至1mm2的叶片。叶面积 （可累计面积）、叶片面积（可累计面积）、叶子穿孔面积 （可累计面积）、叶片长度和宽度、叶柄长度、叶周长 （不受叶片孔洞影响）、叶片周长、叶片长宽比、叶片形状系数、自定义长度和角度测量，叶片锯齿高度、宽度、数量测量，叶孔面积测量；包膜（齿-齿之间的直线长度和），包膜形成的投影面积；不规则叶片形态分析，真彩的病斑、虫损面积分析（含2/3以上叶片被严重虫损的虫损叶面积分析），叶片颜色分档分析（包括按叶片颜色自动分档查询，用于氮肥状态的外观评价）。同时分析多片叶时，可得到叶片总面积、周长等参数，也可得到其中每一片叶片的周长、面积等参数。
可测量植物的叶绿素相对含量或“绿色程度”。可提取往下拍照图像的【冠层面积】信息（系统中的功能为【植物群丛叶面积提取】）。配黑白各1块标尺背景板，便于野外拍照采样。

2.植物根系可分析测量：1）根总长；2）根平均直径；3）根总面积；4）根总体积；5）根尖计数；6）分叉计数；7）交叠计数；8）根直径等级分布参数；9）可不等间距地自定义分段直径，自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积 等，及其分布参数；10）根尖段长分布；11）能进行根系的颜色分析，确定出根系存活数量，输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积；12）能进行根系的拓扑分析，自动确定根的连接数、关系角等，可单独自动分析主根或任意一支侧根的长度和分叉数等；13）可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数（分档数、档直径范围任意可改）；14）大批量的全自动根系分析，对各分析结果图可编辑修正；15）能进行根的分叉裁剪、合并、连接等修正，修正操作能回退，以快速获得100%正确的结果。精度：根长≤±1%；面积：优质图像质量时<1%，标准图像质量时≤3%；16）匹配专门的双光源照明系统，提供高分辨率的彩色或黑白图像，去除了阴影和不均匀现象的影响，有效保证图像质量；17）采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度等，可保存或读取TIFF、BMP、PNG、JPEG、PCX标准格式的图像。18）可兼做针叶面积、体积测量，以及棉纤维粗细、长度测量。

3、植物年轮测量分析：可自动判读年轮数、各年轮平均宽度、早材及晚材宽度、各年轮切向角度和面积。可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界，以及识别出很窄的树轮，可交互删除伪年轮、插入断年轮，可自动生成分析年表。具有【精细】分析选项，可自动分析出≤0.2mm宽度的年轮，分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、数据分析处理能力。

4、瓜果剖面各部位分析：1）.可测西瓜的：纵径、横径、果形指数、总面积、皮厚、空心面积、瓤色分档分析、外周长；2）.可测哈密瓜等甜瓜的：纵径、横径、果形指数、截面积、肉厚、外周长、瓤色分档分析、种腔（纵径、横径、面积）；3）.可测苹果、梨等的：纵径、横径、果形指数、总面积、核心面积、肉色分档分析、外周长；4）.可测柑橘类水果的：纵径、横径、果形指数、总面积、皮厚、肉色分档分析、外周长。还可分析木材的边材面积。

5、最大分析测量面积：A4幅面（30 cm x22 cm），扫描根面积30 cm x20 cm，可分辨的最小尺寸0.008 x0.008 mm；可测量单叶和多叶的参数，以及各类树种的年轮参数；测量总时间：30~60秒。可实现鼠标区域选择统计、对污染区的辅助裁剪或橡皮擦修正。分析测量精度：X向≤±0.5%，Y向≤±0.25%；长度测量重现性误差<±0.25%；面积测量重现性误差<±0.25%；台间测量差异<±0.25%。

6、辅助测量功能：
尺寸标定：自带标定功能，实现半自动的尺寸标定，XY向可分别标定修正；
长度测量：具有跟随放大镜功能，通过鼠标拖动精确测量；

7、数据库：数据存储、智能查询、 数据导出、报表打印。
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