NanoFirst-3100型扫描探针显微镜

特点

激光反射式检测工作模式

轻敲式软样品成像能力，生物大分子及粉体纳米材料检测，超高分辨率

轻敲模式、相位模式

AFM接触式形貌测量，原子力曲线采集显示

STM恒流模式、恒高模式、I-V、I-Z曲线测量功能

特殊设计液体池，具备液体中轻敲式AFM成像能力

深度陡度测量，三维显示

纳米材料粗糙度测量，颗粒粒径度量及分布统计

实时观测比照的形貌图、摩擦力图、相位图、静电力图、磁力图

实时多通道剖面图显示

专为科研和工业应用设计，结构小巧美观

可 选配单分子操纵、局域电性能测量、纳米刻蚀和加工功能

DSP全数字化控制，操作简洁直观

控制主机可以采用笔记本电脑，适合课堂现场演示

XY二维样品移动平台，快速搜索感兴趣的样品区域

步进马达自动进行针尖-样品逼近(STM自动保护针尖)

Windows全中文控制软件，面 向对象设计

提供实验标准光栅、云母和HOPG样品

组合光学连续变倍显微镜，独特的双光路照明，样品观测范围从1nm到20mm

360°全方位彩色CCD成像系统，方便系统调整，可实时样品录像

RS232/USB接口，无需任何计算机卡，安装简单迅速

　

技术指标

探头：

样品尺寸：≤Φ30mm

样品厚度：≤15mm

XY最大扫描范围：标准配置6μm×6μm，可选3μm×3μm， 10μm×10μm，

20μm×20μm，50μm×50μm,100μm×100μm

XY向分辨力：0.4nm(轻敲式)，0.25nm(AFM)，0.1nm(STM)

Z向分辨力：0.05nm(轻敲式,DNA定标)，0.03nm(AFM,云母定标)，0.01nm(STM,HOPG定标)

XY二维样品移动平台范围：0~5mm

步进马达自动进行针尖-样品逼近(STM自动保护针尖)

仅需更换探针架，即可切换STM、接触式AFM、轻敲模式

电化学针尖块，液体池，液体轻敲式AFM成像功能(选配)

44～283X连续变倍彩色CCD观察显微系统

全金属屏蔽防震隔音箱(选配)

精密隔震平台(选配)

电子学控制器：

XYZ控制：18-bit D/A

数据采样：14-bit A/D 、双16-bit A/D多路同步采样

Z向反馈：DSP数字反馈

反馈采样速率：64.0kHz

高压放大器：集成高压运算放大器，最大电压范围±170V

正弦波频率扫描范围：0~1000000Hz

正弦波幅度范围：0~10.0V

最大扫描率：〉40000点/秒

扫描角度：0~360°

扫描偏移：任意

图像采样点：256×256或512×512

步进马达控制：手动和自动进退

计算机接口：RS232/USB口

计算机软件：

运行于中文Windows 98/2000/XP操作系统，标准视窗工作界面

AFM轻敲模式、相位模式

AFM接触模式（Contact Mode AFM）、摩擦力模式（LFM）功能

STM恒流模式、恒高模式功能(STM)

多通道图像同步采集显示，实时查看剖面图

智能识别和控制系统状态、仪器类型、扫描器和探针架参数

DSP全数字控制的参数设置和采集

AFM激光检测系统的实时调整功能

针尖共振峰自动搜索功能

频率-RMS（f-RMS）曲线测量功能

RMS-间隙（RMS-Z）曲线测量功能

原子力-间距（F-Z）曲线测量功能(AFM)

电流-电压隧道谱（I-V曲线）测量功能(STM)

隧道电流-间隙（I-Z曲线）测量功能(STM)

静电力成像模式功能（选配）

磁力成像模式功能（选配）

支持步进马达自动驱进到扫描器中心

支持压电扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正

样品倾斜度线平均、偏置实时校正功能

实时调整本底及比例

定点实时测试I-V、I-Z(STM)、F-Z(AFM)、RMS-Z功能

鼠标控制扫描区域平移、剪切功能

用户任意定义调色板功能

图像获取文件连续存盘和自定义文件名,当前全部工作环境参数同步保存功能

图像在线浏览，连续图像获取文件动态重现，纳米电影功能

图形刻蚀模式、矢量扫描模式、纳米操纵和加工模式（选配）

完备的在线式智能提示及全程帮助

样品粒度、粗糙度分析

标准离线分析和处理功能

增加第二显示器（选配）