您的位置:首页 > 产品展厅 > 仪器仪表 > 光学仪器 > 光谱仪、光度计 > X-PMA型X射线荧光光谱贵金属检测仪
测量能力 | |
测量范围 | Na(11)-Fm(100) |
元素含量分析范围 | ppm - 100% |
X光管 | |
X光源 | Mo – 阳级 |
X-射线电压 | 50kV, 50W |
激发模式 | 直接使用过滤器 |
稳定性 | 室温条件下精确到0.1% |
X光探测器 | |
探测器 | 热电冷却的PIN二极管,避免使用液态氮 |
分辨率 | 155 eV ± 10eV |
窗口 | Be |
特性 | |
自动成样 | 1个位置 |
工作条件 | 空气 |
滤光片 | 6款可选的软件 |
电源 | 115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz |
脉冲加工 | 多信道分析 |
样品架 | 为小块处理而设计 |
尺寸(L×W×H,cm) | 55×55×32(不含包装),80×80×65(含包装) |
重量 | 50Kg(净重),90Kg(总重) |
样品室尺寸 | 22 x 22cm, H=5cm |
电脑 | 集成 pc |
软件 | |
操作软件 | nEXt,运行在Windows XP下的数据采集及分析软件包外加初级基本参数算法 |
控制 | 样品激发,探测,样品操控,数据采集及处理的自动控制 |
光谱处理 | 逃逸峰及背底的自动去除,自动重叠峰解析,图解式统计报告 |
定量分析算法 | 考虑共存元素效应的多元素回归法(六种模式)。总计数,净计数拟合及数字滤波器法。 |
报告 | 用户可自定的数据报表及打印形式 |
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