您的位置：首页 > 产品展厅 > 仪器仪表 > 光学仪器 > 光谱仪、光度计 > X-RoHS+SDD型X射线荧光光谱仪
| | X-RoHS+SDD用于RoHS环境 | X-RoHS+SDD用于全部分析环境 |
| 测量能力 | | |
| 测量范围 | Pb, Hg, Cd, Cr, Br | F（9）-Fm （100） |
| 元素含量分析范围 | Sub ppm - 100% | |
| X光管 | | |
| X光源 | Mo–阳级标准 | |
| X-射线电压 | 50kV, 50W | |
| 激发模式 | 直接使用过滤器 | |
| 光斑尺寸 | 微点—0.1mm，宏点0.8mm（根据样品） | |
| 稳定性 | 室温条件下精确到0.1% | |
| X光探测器 | | |
| 探测器 | 硅漂移探测器/超级SDD，热电冷却 | |
| 分辨率 | 129 eV ± 5eV （使用超级SDD，可达到123 eV ± 5eV） | |
| 特性 | | |
| 工作条件 | 空气/氦气 | |
| 滤光片 | 6款可选的软件 | |
| 电源 | 115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz | |
| 脉冲加工 | 多信道分析 | |
| 尺寸（L×W×H，cm） | 55×55×32（不含包装），80×80×65（含包装） | |
| 重量 | 50Kg（净重），90Kg（总重） | |
| 样品室尺寸 | 22 x 22cm, H=5cm | |
| 电脑 | 集成 pc | |
| 软件 | | |
| 操作软件 | nEXt，运行在Windows XP下的数据采集及分析软件包外加初级基本参数算法 | |
| 控制 | 样品激发，探测，样品操控，数据采集及处理的自动控制 | |
| 光谱处理 | 逃逸峰及背底的自动去除，自动重叠峰解析，图解式统计报告 | |
| 定量分析算法 | 考虑共存元素效应的多元素回归法（六种模式）。总计数，净计数拟合及数字滤波器法。 | |
| 报告 | 用户可自定的数据报表及打印形式 | |
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