您的位置：首页 > 产品展厅 > 仪器仪表 > 光学仪器 > 光谱仪、光度计 > EX-6600 SDD型X射线荧光光谱仪
| 测量能力 | |
| 测量范围 | C（6）－Fm（100） |
| 元素含量分析范围 | ppm - 100%（在指定应用领域中） |
| X光管 | |
| X光源 | Rh – 阳级标准 |
| X-射线电压 | 60kV, 300W |
| 激发模式 | 二次靶激发模式 |
| 稳定性 | 室温条件下精确到0.1% |
| X光探测器 | |
| 探测器 | 硅锂探测器（SDD），避免使用液态氮 |
| 分辨率 | 136 eV ± 5eV at 5.9 keV. |
| 窗口 | Be |
| 特性 | |
| 自动成样 | 10个位置 |
| 工作条件 | 空气/真空/氦气 |
| 滤光片 | 8款可选的软件 |
| 二次靶 | 8款可选，Ge,Zr,Si,Ti,Fe,Mo,Sn,Gd. |
| 电源 | 115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz |
| 脉冲加工 | 多信道分析 |
| 光学 | 专利 WaG ® （广角几何） |
| 尺寸（L×W×H，cm） | 85×85×105（不含包装），145×95×135（含包装） |
| 重量 | 170Kg（净重），200Kg（总重） |
| 样品室尺寸 | 直径28cm,高5cm |
| 电脑 | 集成 pc |
| 软件 | |
| 操作软件 | nEXt，运行在Windows XP下的数据采集及分析软件包外加初级基本参数算法 |
| 控制 | 样品激发，探测，样品操控，数据采集及处理的自动控制 |
| 光谱处理 | 逃逸峰及背底的自动去除，自动重叠峰解析，图解式统计报告 |
| 定量分析算法 | 考虑共存元素效应的多元素回归法（六种模式）。总计数，净计数拟合及数字滤波器法。 |
| 报告 | 用户可自定的数据报表及打印形式 |
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