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SpectraThick4000 薄膜厚度测量仪特点
1） 因为是利用光的方式，所以是非接触式，非破坏式，不会影响实验样品。
2） 可获得厚度和 n,k 数据。
3） 测量迅速正确，且不必为测量而破坏或加工实验样品。
4） 可测量3层以内的多层膜。
5） 根据用途可自由选择手动型或自动型。
6） 产品款式多样，而且也可以根据顾客的要求设计产品
7）可测量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP专用）
SpectraThick4000 薄膜厚度测量仪产品规格/型号
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
北京燕京电子有限公司成立于1988年，是北京电子控股有限责任公司直属企业，是一家全球集成供应商和专业设备及仪器的服务商。公司目前经营规模超亿元，主 营业务为向国内外科研院所、大型设备制造业和金融业提供成套集成供应及专业设备仪器的维护、运行等专业化的系统解决方案和服务。
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在仪器服务方面，燕京公司是众多国际知名仪器设备厂商在中国的重要合作伙伴。公司致力于从事工业电子、教学科研、通信技术以及电力石化等领域的产品 销售和系统集成，能够为用户提供各种良好的针对行业的、完整的测试应用解决方案。
SpectraThick300 薄膜厚度测量仪把UV-Vis光照在测量对象上，利用从测量对象中反射出来的光线测量膜的厚度的产品。 这种产品主要用于研究开发或生产导电体薄膜现场，特别在半导体及有关Dis
SpectraThick5000 薄膜厚度测量仪把UV-Vis光照在测量对象上，利用从测量对象中反射出来的光线测量膜的厚度的产品。 这种产品主要用于研究开发或生产导电体薄膜现场，特别在半导体及有关Di
SpectraThick6000 薄膜厚度测量仪把UV-Vis光照在测量对象上，利用从测量对象中反射出来的光线测量膜的厚度的产品。 这种产品主要用于研究开发或生产导电体薄膜现场，特别在半导体及有关Di
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