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SS-700 亚微米电路/射频测试针座 |
SS-100 亚微米电路/射频测试针座 |
SS-40-T 电路/射频测试针座 |
SS-40 I/O Pad/ Electro -Optics光电测试针座 | |
特点 | ||||
亚微米工艺集成电路电路测试 | 亚微米工艺集成电路电路测试 | 线性移动 | 价格实惠 | |
线性,无后座力移动 | 线性,无后座力移动 | I/O Pad 点测 | 线性移动 | |
可以配合同轴/三轴探针夹具使用 | 可以配合同轴/三轴探针夹具使用 | 电路点测 | I/O Pad 点测 | |
夹具可以30度范围倾仰 | 夹具可以30度范围倾仰 | 射频测试 | 光电器件点测 | |
可以使用钨探针 | 可以使用钨探针 | 较小的体积 | 体积小 | |
可以配置为东/南/西/北四个方向的射频针座 | 可以配置为东/南/西/北四个方向的射频针座 | 可以配合同轴/三轴探针夹具使用 | 可以配合同轴/三轴探针夹具使用 | |
射频测试能力:直流到 40GHz ~ 120GHz | 射频测试能力:直流到 40GHz ~ 120GHz |
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可以配合使用校准片和校准软件 | 可以配合使用校准片和校准软件 |
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探头接口和线缆45度连接,无需L型转接头 | 探头接口和线缆45度连接,无需L型转接头 |
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探头可以拆卸维修 | 探头可以拆卸维修 |
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带射频测试线固定装置 | 带射频测试线固定装置 |
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规格 | ||||
X-Y-Z方向行程 8 x 8 x 8mm | X-Y-Z移动行程 12 x 12x 12mm | X-Y-Z移动行程 12 x 12 x 12mm | X-Y-Z移动行程 12 x 12 x 12mm | |
线性移动 | 线性移动 | 线性移动 | 线性移动 | |
丝杠精度 700 Thread / Inch | 丝杠精度 100 Thread / Inch | 丝杠精度 80 Thread / Inch | 丝杠精度 40 Thread / Inch | |
移动精度 0.1 微米 | 移动精度 0.7 微米 | 移动精度 2 微米 | 移动精度 10 微米 | |
尺寸 | ||||
100长 x 140宽 x100mm高 | 90长 x 130宽 x 90mm高 | 52宽 x 96长 x 76mm高 | 38宽x 62长 x 45mm高 | |
重 1100 克 | 重700 克 | 重 350 克 | 重200 克 | |
附件 | ||||
三轴探针夹具 | ||||
同轴探针夹具 | ||||
磁力底座,磁力翻转底座,真空底座 | ||||
电动针座升级 | ||||
射频探头 | ||||
光纤探头 | ||||
低电流/电容点测配件 | ||||
高压配件 |
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