深圳温度循环冲击试验箱

 一、深圳温度循环冲击试验箱工作原理

1、低温储存箱：箱内温度状态由风道中的加热器、蒸发器以及风机的工作状态决定。经过膨胀阀节流流出的制冷剂进入工作室内蒸发器后，吸收工作室内热量并气化，使工作室温度降低；气化后的工质被压缩机吸入并压缩成高温、高压气体进入冷凝器中被冷凝成液体，再经筛检程式，最后通过膨胀阀节流后，重新又进入工作室内蒸发器中吸热并气化然后再被压缩机吸入压缩。如此往复回圈工作，使工作室温度降到设置的温度要求

2、高温储存箱：中央控制器从感温元件检测即时信号，与设定温度信号进行比较，得到比较信号，由仪表PID逻辑电路输出信号控制固态继电器的导通或关断的时间比例调节加热器输出功率大小，从而达到自动控温的目的。

3、冲击温度测试箱：由仪表自动控制高低温气阀，在低温或高温储存室之间切换，分别与高温箱或低温箱形成闭路空气循环系统，迅速达到试验的目标温度。试验箱内温度状态由风道中的加热器、蒸发器、及风机的工作状态决定。试验箱工作室内采用强制轴流“散性”式回圈风工作，可以大大提高设备运行的波动度、均匀度等参数。

（手动）除霜；    
9、采用日本OYO控制器人机界面友好，程序设定方便，异常及故障排除显示功能齐全。

二、深圳温度循环冲击试验箱产品 用途

    深圳温度循环冲击试验箱又名三箱式冷热冲击试验箱主要用于测试零部件、材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在最短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

  温度冲击试验箱适用于质量控制的实验室，确定电工电子产品在贮存、运输和使用期间可能遇到的温度迅速变化的条件下的适应性，又可满足生产过程中筛选商用产品。适用的对象包括金属，塑料，橡胶，电子、LED、LCD、通讯组件、汽车配件、化学材料、航天、国防工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料等行业，可作为其产品改进的依据或参考。

三、深圳温度循环冲击试验箱满足与执行标准

GB/T2423.1-1989 电工电子产品基本试验规程试验A：低温试验方法

GB/T2423.2-1989电工电子产品基本试验规程试验B：高温试验方法

GJB360.7-87 温度冲击试验

SJ/T10187-91Y73 系列温度变化试验箱—箱式

GJB150.3-86     GJB150.5-86 

GJB150.4-86 电子冷热冲击试验箱，电子产品冷热冲击试验箱，电子产品冷热冲击试验机

四、深圳温度循环冲击试验箱规格参数表

五、深圳温度循环冲击试验箱控制系统

主控制器采用进口日本“OYO”双回路高精度液晶显示触摸按键温度控制器。该控制器采用液晶显示触摸屏，可显示设定参数、试验曲线、运行时间、加热器工作状态，PID参数自整定功能。控制程序的编制采用人机对话方式，仅需设定温度，就可实现制冷机自动运行功能。控制系统具备完善的检测装置能自动进行详细的故障显示。报警，配置485通讯接口及运行软件。设定精度：温度：0.1℃ 时间：Is用户程序容量：10×99段。运行方式：程序运行，恒定运行。独立超温保护仪表。设备工作时间累计计时器。低温区、高温区转换时间小于等于15秒。 温度恢复时间小于等于5分钟。 >GJB150.3-86     GJB150.5-86 

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