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主要特点
定点热分析空间分辨率:sub-100nm
* 直接能够『Add-On』所有 AFM
* 呈像模式:接触式和非接触式,以获得区域 AFM 形貌
* 同时进行 μ-DTA/μ-TMA 分析以进行微区材料热分析表征
* 定点热分析:膨胀,Tg,软化和熔融
* 温度范围:室温 ~ 500° C
* 升温/降温速率:0.1~ 1,500° C/分钟
* 应用于:热固性树脂,高分子混炼,药物,等相变化,热物性,材料接口分析
仪器介绍
微热分析 (μTATM) 技术结合扫描热成像 (SThM) 于『原子力显微镜 - AFM』, 而将原子力显微镜的一般探针以特殊热探针予以取代。这种特殊设计的热探针通过电流时, 除了提供热源也能测量阻抗。首先, ac 和 dc 热性质成像 (阻抗加热组件探头于一提供温度的振荡但同时维持固定的平均温度) 结合机械测量微TMA『μ-TMA』和微调幅式 DTA 『μ-MTDTA』分析选择的『微区面积』的热性质。
结合扫描热成像 (SThM) 和原子力显微镜 (AFM) 的技术使 得『微热分析 – μ-TA』证明在材料科学、药物学、微电子 产品和生物科技系统皆可以有广泛的应用。
样品既可以用探针做微区加热也可以配合热平台做整个样品的加热, 甚至于两种的结合使用。
利用温度的变化可以增加更多信息的获得, 尤其是利用热卡式和机械方式测量材料的物理性质, 计划进一步利用附加红外线放射以产生红外线光谱和利用 GC-MS 分析经热裂解产生出来的分解气体, 必会使得『微热分析 – μ-TA』成为高分辨的微区表征分析的有效工具。
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