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Hitachi S-4800简介:
日本Hitachi公司生产S-4800型SEM,采用专利的E×B技术,可以分别收集和分离单纯二次电子、混合二次电子及背散射电子的信号。配有X-射线能谱仪,可在形貌观察的同时进行样品成分分析。
仪器主要配置:
X射线能谱仪,离子溅射仪,真空蒸镀仪,冷冻干燥机。
主要性能指标:
1. 二次电子分辨率:1.4nm(1kV,减速模式);1nm(15kV)
2. 电子枪:冷场发射电子源
3. 加速电压:0.5 ~ 30 kV
4. 放大倍数:×20 ~ ×800,000
5. 探测器:低位/高位二次电子探测器
应用领域:
主要用于生物体、高分子、无机非金属、金属材料等样品的表面形貌观察及元素成分分析。广泛应用于生物、能源、材料、化工、环境等研究领域。
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