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双折射测量系统 /双折射测试仪

双折射测量系统 /双折射测试仪

  • 价 格: 电议
  • 型号:
  • 生 产 地:日本
  • 访问:1067次
  • 发布日期:2009/11/2(更新日期:1900/1/1)

源顺科技仪器有限公司

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产品展示

Uniopt公司致力于光学外差干涉技术的开发,为液晶、光学储存盘、高分子薄膜提供双折射检测设备。
  • 详细内容
  • 公司简介

双折射测量系统 /双折射测试仪

全自动双折射测量系统 ABR-10A ( 高解析度、高速型 ) 双折射系数的线性解析度高达 0.01nm ; 可同时测量延迟轴和主轴两个方向; 基于光学相位差的双折射系数显示; 一秒采样时间; 应用: 液晶显示屏膜; 聚合物膜的取向; DVD 和 CD 光学系统组件; 由于薄膜和基材之间热膨胀系数不同引起的应力; 某些透明材料的内部残余应力,如光学玻璃和塑料; 某些透明材料的热应力; 光弹性系数; 全自动双折射测量系统 ABR-22( 自动测量线性和周向双折射系数,高速型 )

双折射测量系统 /双折射测试仪

特点: 可同时或独立测量线性和周向双折射系数; 无需样品旋转,即可测量主轴和延迟轴的线性双折射系数、圆周双折射系数的旋转角; 一秒采样时间; 可选样品旋转台; 二维或三维显示 双折射系数的线性解析度高达 0.01nm ; 可全自动操作; 应用: 液晶显示屏 (TN, STN) 的双折射分布 ; 液晶显示屏 (TN, STN) 的双折射系数与电压的关系; 电-光学器件 ( 如: Pockel 效应、 Faraday 旋转、 Kerr 旋转等 ) ; 光学晶体研究; 聚合物膜研究; 全自动双折射测量系统 ABR-30( 超高速型 ) 特点: ABR-30 可以实现双折射系数的高速测量: 100 微秒; 维护成本极低; 二维或三维显示; 可选样品旋转台; 操作方便; 应用: 在静态和高速旋转速度下进行光学储存器件表征; 动态双折射研究 ( 如液晶、高分子 ) ; 对某些透明材料的热冲击; 动态光弹性系数; 光学相位调制器;


源顺国际有限公司

源顺国际有限公司是一家专门从事纳米科技,材料分析,光电产品检测及生产设备销售和技术咨询的高科技公司。我们独家代理具有世界先进水平的分析仪器,产品涵盖了微观结构观察,物理性能,力学性能及电磁学性能。
Total Solution ,为客户提供整体解决方案,是源顺公司一贯坚持的宗旨。 这个宗旨象征高新科技、品质与客户服务,并将在新的世纪中,全面提升服务品质以伴随您的阔步发展。
源顺公司秉持企业文化:『诚信』、『品质』、『服务』、『团队』、『创新』,本着其宗旨『Total Solution』,继续将最先进的技术,以最佳的成本效益,提供客户最优质的精密分析仪器和生产设备,并坚持最完美的服务。

公司产品主要有:
LUM公司: 多功能的颗粒状态与稳定度分析仪
Qudix公司: 奈米 & 微米颗粒大小分析仪。
Scinco公司: 可见光及紫外光光度计(UV-Vis Spectrophotometer), Colormate。
SOFRASER公司: 在线粘度计。
ProRheo公司: 高阶粘度计。
Rame-hart公司: 接触角及表面张力分析仪。
AET 公司: 微波诱电分析仪
NANOFILM公司: 呈象椭偏仪,布氏角显微镜,LB 薄膜分析。
UNIOPT公司: 双折射分析仪。
NonoInk: Dip Pen Nanolithography (DPN) 沾笔式纳米制程技术。
ANASYS 公司: Nano-Thermal Analysis。
PNI公司: 原力显微镜(AFM)
Capres公司: MRAM,写磁头的MTJ 磁阻和隧阻&材料表面 Nano微区范围的阻抗分析.
LYNCEETEC公司: DHM (数字全析显微镜)
BEDE公司: 高分辨X射线衍射仪。
OMI公司: Solstice (晶圆或外延片的能阶Bandgap分析,Strained Silicon 分析)。
Equinox (IC or MEMS封装应变,3D热机械变形及CTE分析)。
Pascal公司: 脉冲雷射溅镀MBE(PLD MBE) – ZnO, GaN, etc.。
Cambridge Nano Tech: 原子薄膜沉积仪 (ALD).
EpiQuest公司: 研发型 MOCVD,MBE,VCSEL 氧化系统。


源顺国际公司总部设在香港,在上海和北京设立了分公司,深圳和成都设立了办事处,并有强大的技术和维修队伍,为客户提供最高水平的产品和服务。

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