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| 产品型号 | G150M | G150S |
| 有效通光口径 | 152.4mm（6英寸） | |
| 测量方式 | 菲索干涉原理 | |
| 光源 | 氦氖激光（632.8nm） | 半导体激光器（635nm） |
| 连续变焦倍数 | 1-6.7倍 | 固定倍率 |
| 光路切换 | 对准（十字叉丝）与测试（干涉场）模式电控切换 | |
| 显示方式 | 计算机或独立监视器实时显示 | 监视器实时显示 |
| 平面透过标准镜 | PV：优于λ/20，可定制更高精度标准镜 | |
| 平面反射标准镜 | 标配 | 选配 |
| 衰减过滤片 | 标配 | 选配 |
| 仪器尺寸(长X宽X高) | 500X500X1070mm | |
| 仪器重量 | 80KG | |
| 电源 | AC100-240V 50/60Hz | |
| （附注：更大口径平面干涉仪可依据客户需求定制） | ||
| ◇ 精度高：标准镜精度高，且材料经过精密退火处理，稳定可靠；
◇ 调整方便：可通过切换开关选择对准与干涉场两种显示模式，方便调整；
◇ 条纹真实：优良的光学设计，精密的系统装保证得到清晰、准确、真实的干涉条纹；
◇ 性能优良：仪器具备良好的隔振性能，适合光学加工现场使用；
◇ 配件丰富：标配密封罩，可将测试腔与外界气流隔离，降低测试过程中气流扰动，提高判断的准确性。配合衰减过滤片，可以测量镀高反膜元件。 |
G450M大口径激光干涉仪系统是双路测量系统：一路是100mm（4英寸）小口径测 量系统，另一路是大口径平面测量系统。
G450S大口径激光干涉仪单光路系统，适合光学车间平面元件的现场检验。
G200M激光平面干涉仪为正立式结构，通光口径为200mm。 G200M弥补了国内使用有效口径150mm的干涉仪测试大尺寸光学系统和光学元件不能全口径 测试的不足，改善提高了大口径光学系统和光学元件测
G60D倒置式激光球面干涉仪：标准口径为Φ60mm，镜头下置，适合大批量球面镜的快速检验。标配的球面标准镜头为F0.7，可选购的型号包括F0.6，F1.0，F1.4，F2.0，F2.8，F3.3，F5
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