G30U立式激光干涉仪上海乾曜光学科技有限公司

价格：电议
型号：G30U
生产地：中国大陆
访问：45次
发布日期：2016/5/13(更新日期：2018/8/8)

上海乾曜光学科技有限公司

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产品展示

G30U正立式激光干涉仪通光口径为Φ30mm，镜头上置，仪器具备良好的隔振性能，适合光学车间现场的制程检验，拼盘检验，小批量多品种的光学镜片检验。标配F0.7球面标准镜头，选配标准镜头有F0.6，F1.0，F1.4，F2.0，F2.8，F5.6，可定制其他F数的镜头；也可选配平面标准镜及相关治具测量平面镜。
主要用途：球面类光学元件（包括各类玻璃、塑料透

详细内容
公司简介

上海乾曜光学科技有限公司秉承“超越精密源自理想”的精神专注、专业地致力于光学测量仪器、光学系统、光学元件以及精密光机系统的设计、制造。为光学领域的科学研究、精密测量提供全方位的解决方案。
乾曜光学具有激光干涉仪独立研发，光学和机械核心元件制造，光学装校，和性能测试的全过程能力，结合完善的销售渠道和售后服务，为用户提供全方位的服务。随着公司不断成长，目前具有年产400台干涉仪的能力，累计销售超过800台，服务全国各地的科研院所，大学和企业，并销往日本，美国和欧洲等地。
乾曜光学为客户提供中高端激光干涉仪，平面干涉仪具有口径范围大（5mm-450mm)的特点，有效地满足了大口径光学元件检测的需求；球面干涉仪有30mm，60mm，4英寸，6英寸等多个型号，标准镜头F#范围广泛。高端产品不但具有国际同等的功能和精度，而且为客户提供定制产品，主要应用于：国内计量机构广泛用于对光学样品的检定和校准；科研院所用于光学系统装校的过程监控和系统精度评价；也能够为开展进出口业务的客户提供与国外干涉仪的对标服务。中端产品具有较高的精度并较好的控制了成本，适合光学车间的光学元件的快速检测。大口径平面干涉仪有效地满足了大口径光学元件，以及拼盘加工过程中的测量口径需求；球面干涉仪的独特设计，成像清晰，操作便捷，具有测试过程中被测元件无需调整位置的特点，极大地提高了检测速度。
详细介绍

主要用途：球面类光学元件（包括各类玻璃、塑料透镜、球面反射镜、光圈量规、球面轴承等）表面光圈、局部形变的测量，球面曲率半径的测量（配合光栅尺）。平面类光学元件（平面镜、水晶、陶瓷、标准量块等）的表面光圈。

仪器规格参数表

产品型号	G30U
有效光束直径	Φ30mm
光源	半导体激光（635nm）
光路切换	对准（十字叉丝）与测试（干涉场）模式电控切换
标配镜头	F0.7
选配镜头	F0.6，F1.0，F1.4，F2.0，F2.8，F5.6和平面镜头
标准镜头面形精度	优于λ/20@632.8nm
仪器尺寸(长X宽X高)	240X160X570mm
仪器重量	15KG
电源	AC100-240V 50/60Hz

GSW干涉条纹分析软件

移相干涉条纹分析软件和静态干涉条纹分析软件供选择，实现数字化测量。

核心器件大品牌，性能稳定

进口1/3英寸CCD，索尼原装模拟黑白芯片，画面均匀光滑，没有模拟彩色CCD彩转黑造成的线阵损失。
进口半导体激光器兼顾性能稳定和成本，体积小更换方便，不维修费用低。

30mm球面标准镜头（G30U）

➢型号丰富

标准品有7个型号，全部现货供应，可定制其他F数的镜头
➢ 标准面使用康宁熔石英材料
康宁熔石英材料质地坚硬，掉落镜片不会砸伤镜头；镜头加工过程中经过稳定处理，应力小，精度稳定。

测试范围，大有好处

30mm通光口径，凸面测量范围比25.4mm口径干涉仪大18%；Z向导轨有效行程长达200mm。
选配要点：

➢待测球面的R/D（曲率半径与口径的比值）应当大于球面镜头的F数，才能实现全口径测量；建议选取F数最接近（略小于）被测面R/D值的球面镜头。

➢ 凸面曲率半径与口径的测量范围受限于镜头标准面的曲率半径与有效通光口径；凹面的测量范围受限于测试腔的长度（也即是仪器导轨的有效移动距离）与宽度（也即是载物台的横向尺寸）。

干涉仪	F数	标准面曲率半径（mm）	曲率半径测量范围（mm）		最大测量口径（mm）
干涉仪	F数	标准面曲率半径（mm）	凸	凹	凸	凹
G30U	QY-30-F0.6	6	—	0~144	—	120
	QY-30-F0.7	11	0~11	0~168	15	120
	QY-30-F1.0	21	1~21	1~179	21	120
	QY-30-F1.4	32	2.7~32	2.7~168	23	120
	QY-30-F2.0	52	4.3~52	4.3~148	26	74
	QY-30-F2.8	75	6.3~75	6.3~125	27	44
	QY-30-F5.6	159	13.3~159	13.3~41	28.5	7

注：

1) 测量凸面最大曲率只与镜头标准面贴合时被测曲率。

可检查最小口径以及最小曲率半径根据被检物的形状而异。

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