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飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)

飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)

  • 价 格: 电议
  • 型号:
  • 生 产 地:日本
  • 访问:608次
  • 发布日期:2009/11/2(更新日期:1900/1/1)

美国安普科技中心

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飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)
  • 详细内容
  • 公司简介
技术参数

1.空间分辨率:使用25千伏Ga脉冲离子束,使用PHI提供的监测结构,空间分辨率*120 nm
2.质量精确度: 在小于m/z = 100情况下,*2 mamu,在大于m/z = 100,<10 ppm
3.传输率: 40%的原子,90%的分子,数值由离子光学模拟计算得出。

主要特点

1.标准配置In,Ga离子枪,还可以选配Cs/O离子源和Au离子源
2.高灵敏度,高成像清晰度,无阴影效应
3.动态范围宽

美国安普科技中心(ATC)代理欧美等专业厂家的具有国际先进水平的科学仪器、设备和试剂。ATC总部位于美国加州,北京、上海、沈阳分别设有办事处。1992年开展对中国贸易,下设环境工程部、生物工程部、工业环境部、电子部及农业工程部。
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