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场发射扫描俄歇纳米探针SAM

场发射扫描俄歇纳米探针SAM

  • 价 格: 电议
  • 型号:
  • 生 产 地:美国
  • 访问:547次
  • 发布日期:2009/11/2(更新日期:1900/1/1)

美国安普科技中心

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场发射扫描俄歇纳米探针SAM
  • 详细内容
  • 公司简介
技术参数

1.电子束径<6nm
2.灵敏度〉700 KCPS(10KV.10nA)
3.能量分辨率<0.5%
4.信噪比〉700:1(10KV.10nA)
5.样品台φ25-60mm

主要特点

1.场发射电子枪
2.筒镜分析器(CMA)和同轴电子枪,无阴影效应
3.多道检测器(8)
4.全自动样品台

仪器介绍

分析对象:无机,金属陶瓷半导体材料。
获得信息:元素信息
点线面深度剖析三维元素分布信息。
可提供SEM、AES、SAM分析。


美国安普科技中心(ATC)代理欧美等专业厂家的具有国际先进水平的科学仪器、设备和试剂。ATC总部位于美国加州,北京、上海、沈阳分别设有办事处。1992年开展对中国贸易,下设环境工程部、生物工程部、工业环境部、电子部及农业工程部。
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