您的位置:首页 > 产品展厅 > 仪器仪表 > 无损检测仪器 > 测厚仪 > CMI900涂镀层测厚仪
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪
Advanced Materials Analysis Instrument
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包,实现了对CMI900/950主机的全面自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。
上海凯悦电子科技有限公司 自创立以来,以良好的信誉及优质的服务,在业界迅速的发展。公司主要从事一般实验室用设备和分析仪器的进口代理及其相关的售后服务,同时代理销售国产品牌实验仪器和实验耗材,并有设备配件,滤芯,滤袋等耗品销售。
产品包括:实验室哈氏槽整流器,磷铜阳极,镍阳极,纯锡阳极,锡铅阳极,哈氏槽黄铜试片,哈氏槽、哈氏片,赫尔槽,哈林槽,PH电极、手浸式喷流锡炉、等相关设备;扫描电子显微镜/电镜(SEM EDS); X射线能谱仪(EDS),X射线波谱仪(WDS),X射线能谱-波谱一体化系统 (EDS+WDS);
英国牛津仪器(OXFORD) CMI900/950 ,测厚仪,膜厚仪,X-RAY荧光测厚仪; X-Met3000TX手持式X荧光合金分析仪,有害物质ROHS (Pb, Hg, Cd, Cr6+ 和 Br (PBB & PBDE)的含量检测仪;法国METRONELEC公司 离子污染测试仪, 离子污染就是在潮湿空气中的离子形式出现的残留物; 法国METRONELEC公司 可焊性测试仪;
德国Bandelin超声波清洗系列; PHOENIX 熔样仪Phoenix 6000/4000/2000 VFD;在线折光仪PR20-Series;在线折光仪IR10。
凯悦是英国Oxford 、德国Krüss、Hirschmann、Haver & Boecker、GFL、Heidolph, 意大利Milstone,美国Thermo、Dionex、SPEX等公司在中国的代理公司,现已与世界多家分析仪器制造厂商建立了长期稳定的贸易往来关系。凭着多年的行业优势、信息积累,市场开发的经验,与 PCB 、半导体及封装行业的各大厂家建立了良好而密切的业务联系。
① 凡本网注明"来源:易推广"的所有作品,版权均属于易推广,未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。已获本网授权的作品,应在授权范围内
使用,并注明"来源:易推广"。违者本网将追究相关法律责任。② 本网凡注明"来源:xxx(非本网)"的作品,均转载自其它媒体,转载目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责,且不承担此 类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如其他媒体、网站或个人从本网下载使用 ,必须保留本网注明的"稿件来源",并自负版权等法律责任。
③ 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起两周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。
④易推广页面显示产品信息均由企业自主发布,信息内容真实性、准确性与合法性由相关企业负责,易推广对此不承担任何责任,如遇非法或侵权信息欢迎监督,请联系QQ:1273397930或者发邮件至:1273397930@qq.com,如有确实证件证明属实,本站将对其删除处理,谢谢!
⑤ 本信息由注册会员:凯悦(香港)国际发布并且负责版权等法律责任。
易推广客服微信