主要测试项目：
1． 晶体的串联谐振频率FS。
2． 晶体的负载谐振频率FL。
3． 晶体的串联谐振电阻RR。
4． 晶体的负载谐振电阻RL。
5． 晶体的静电容C0。
6． 晶体的负载电容CL。
7． 晶体的频差ppm或KHz。
技术指标：
1． 晶体频率测量范围：3―――６０ＭＨｚ。
2． 等效电阻测量范围：０―――２００Ω。
3． 静电容测量范围： ０―――２０ＰＦ。
4． 负载电容的调整范围：１０―――４０ＰＦ。
5． 激励电平的调整范围：１０―――５００ｕＷ。
6． 晶体等效电阻的测量误差：≤５％。
7． 激励电平误差： ≤５０％。
8． 工作温度范围： ＋１５―――＋３５℃。
9． 时基稳定度（10MHz）： 5×10-7
10． 电源电压： ２２０Ｖac ＋／－１０％。
11． 功耗： ≤１５W。
特点： 1.高精度恒压、恒流。 2.输出电压、电流分别为四位数字显示（PS-B305D）。 3.电流最小可预置输出4mA。 4.分辨率电压10mV、电流1mA。 5.具有mA
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