P-16型表面轮廓仪可以为多种不同表面提供全面的两维和三维形貌分析特性，包括半导体硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、精加工表面、光电子、薄膜/化学涂层、生物医学器件和平板显示。仪器运行于Windows® XP操作平台，使用金刚石探针接触测量的方法来实现高精度表面形貌分析应用。拥有简洁直观的操作界面，P-16能够精确可靠地量测出台阶高度、表面粗糙度、细微波纹度及其他的基片形貌参数。三种不同的测量头配置可以满足各种表面形貌分析的需求，同时具有顶视和侧视镜头使得样品的定位更趋于简单。
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