美国MDC公司的CSM/Win系列C-V测试仪包含了单频、多频电容电导仪和准静态电容表。对于任意一种类型的仪表，都可以根据需要来选择它的精度和电压范围。
MDC公司的C-V测试系统不仅仅可以测量半导体材料的电容电导（capacitance and conductance）特性，还包括电流电压（current-voltage ）测试、 栅氧损耗（gate oxide integrity）、高级MOS电荷分析（advanced MOS charge analysis）、表面陷阱电荷密度（interface trap density）、介电常数（dielectric constant）和TVS分析（Triangular Voltage Sweep analysis）等等。另外，也只有MDC公司才可以帮助客户实现其特殊应用的需求。我们可以根据用户的需要来定制软件和硬件系统，用以满足不同客户的需求。
有两种平台：水银（汞）探针（Mercury Probe）、热吸盘（Hot Chuck）可供选择。
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