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应用领域：镀层测厚 材料元素分析 镀液分析 金银首饰分析
仪器优点：
1、XYZ三维移动样品台，操作杆、软件双重控制
2、测试软件采用FP基本参数法，结果更准确
3、二次滤光机制，提高检测精密度
4、光闸系统，防止X光泄漏，操作更安全
5、多种准直器可选，可测不同形态样品
6、高精度CCD彩色摄像头，方便选择测试点
UTX650B可为电镀客户提供更佳的X荧光测量方案，X射线从上向下照射样品，不同大小形状的样品更方便放置及测量。UTX650B的自动操
作系统为用户提供方便可靠的镀层测厚、镀液分析、简单元素分析或贵金属分析方案。标准配置为20倍彩色CCD系统用于样品图象观察；XYZ三
维移动样品台；单准直器及多准直器可选，样品托盘自动弹出功能，激光对焦及定位系统，二次滤光片多种可选方式及封气式正比计数器。
优特完善的X荧光分析软件基于基本参数法（FP法）或校正曲线法，确保了完美的测量结果。仪器易于操作，软件界面更具人性化。
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