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比表面及孔容积测定仪
静态容量法比表面及孔容积测定仪JW-BK技术参数如下:
主要功能:比表面及孔容积测定仪可实行BET比表面(多点及单点)测试,Langmuir比表面测试,炭黑外
比表面测定,吸附、脱附等温曲线测定, BJH孔径分布、总孔体积和平均孔径测定;
真空系统:极限真空度6×10-2Pa
测量范围:比表面 ≥0.01M2/g 至无规定上限,孔尺寸 0.7~ 400nm ;
样品数量:比表面及孔容积测定仪可同时测定1-4个样品;
测量精度:≤± 2% ;
压力控制:比表面及孔容积测定仪高精度压力传感器,数字显示,精度 0.2%,独特的充气与抽气速度自
动控制系统
运行方式:高度自动化,智能化,长时间运行可以无人看管自行测试
测试时间:比表面及孔容积测定仪多点BET法比表面平均每个样品15分钟,孔径分布测试、孔隙度测试平
均每个样品100分钟
测试气体:高纯氮气(不用氦气),氮气消耗量极小
吸附过程:JW-BK比表面及孔容积测定仪样品不需要频繁从液氮杜瓦瓶中进出,液氮消耗极少
软件系统:比表面及孔容积测定仪在Windows平台上,提供过程控制和数据采集、处理、报告系统,多种
测试方法可自由方便选择,在计算机屏幕上,同步显示吸、脱附,测试过程、可随时查看已完成部分的测
试数据;本机软件功能强大、界面友好、兼容性高、使用方便;
精微高博公司致力于比表面仪的研发、生产和销售,是北京科委批准的唯一高新技术企业。公司拥有一批材料研究、仪器仪表及计算机领域专家及顾问团队,潜心于材料表面特性表征与测试方法的结合研究,致力于为高校、科研单位及大中型生产企业提供高效、精确可靠的分析测试仪器。公司主要产品:JW-BK、JW-RB、JW-004A及JW-K型比表面积及孔径分布分析测试仪;配套产品有比表面积测试样品准备装置--JW吹扫机。前两款为本公司的新型仪器,分别采用国际上通用的静态容量法,该技术达到国际领先水平,填补了国内空白。同时后两款在动态氮分压精确控制等技术方面又有很多新的突破和创新,整体设备性能无论从测试精度、稳定性、测试结果可重复性还是测试高效性等方面都达到了国际同类产品水平,国内处于领先地位。专业、完善、及时、高效的售后服务更是得到了用户的赞誉。
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