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CMI760英国牛津测厚仪Oxford原装进口涂层测厚仪

CMI760英国牛津测厚仪Oxford原装进口涂层测厚仪

  • 价 格: 1元
  • 型号:
  • 生 产 地:欧洲
  • 访问:14次
  • 发布日期:2017/4/13(更新日期:2017/4/13)

笃挚仪器(上海)有限公司

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产品展示

CMI760英国牛津测厚仪Oxford原装进口涂层测厚仪
CMI760一款可用于测量孔内镀铜厚度和表面铜的台式PCB专用铜厚测量仪。
CMI760台式测厚仪拥有非常高的多功能性,它集快速精确、简单易用、质量可靠等优势于一体,同时它也是专为测量刚性及柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的电镀铜测量而设计。
  • 详细内容
  • 公司简介
 CMI760英国牛津测厚仪Oxford原装进口涂层测厚仪


涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
 
涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。




 CMI760英国牛津测厚仪Oxford原装进口涂层测厚仪   常规型


对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关国家和国际标准中称为覆层(coating)。
 
覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。
 
覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
 
X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。
 
采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行。



 CMI760英国牛津测厚仪Oxford原装进口涂层测厚仪

主机参数:
存储量 8000字节,非易失性
尺寸 长×宽×高292.1×270×140mm
重量 2.79Kg
电源 AC220V
单位转换 通过一个按键实现英制和公制的自动转换
单位 可选mils 、μm、μin、mm、in或%为显示单位
接口 RS-232 串行接口,波特率可调,用于下载至打印机或计算机
显示 带背光和宽视角的大LCD液晶显示屏,480(H)×32(V)象素
统计显示 测量个数,标准差,平均值,最大值,最小值
统计报告 需配置串行打印机或PC电脑下载,存储位置,测量个数,铜箔类型,
线形铜线宽,测量日期/时间,平均值,标准差,方差百分比,准确度,
最高值,最低值,值域,CPK 值,单个读数,时间戳,直方图
图表 直方图,趋势图,X-R 图

笃挚仪器(上海)有限公司以“优质成就价值-Focus On Better?Quality”为宗旨,专注于计量检测和材料分析设备的研究、引进与推广,公司以深厚的工程技术背景和高效率的资源整合帮助企业在原始设计、开发周期、产品质量、在役检测等各方面显著提升效率和可靠性。笃挚仪器(上海)有限公司拥有源自美国、英国、德国等多地区的合作伙伴,凭借种类齐全的产品资源和服务,涵盖光学仪器、测量仪器、无损检测、实验仪器、分析仪器、量具量仪等各类检测设备,努力为客户解决日新月异的测量分析技术挑战,共同提供定制化精密测量和性能分析系统解决方案,有效推动企业实现既定目标。笃挚仪器(上海)有限公司的产品和系统方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造业、精密机械、模具加工、电子电力、铸造冶金、航空航天、工程建筑、大专院校等研究实验室和生产线、质量控制和教育事业,用于评价材料、部件及结构的几何特征和理化性能,推动着先进制造技术的精益求精。
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