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X-Strata980（X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪）

价格：电议
型号：X-Strata980
生产地：USA
访问：141次
发布日期：2009/11/2(更新日期：1900/1/1)

CMI中国有限公司

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X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。

详细内容
公司简介

X-Strata980（X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪）

产品简介：

X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积

的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，

能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，

帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系

数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别

出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱

门使样品更易放入。

应用:

－－RoHS/WEEE

－－有害元素痕量分析

－－焊料合金成分分析和镀层厚度测量

－－电子产品中金和钯镀层的厚度测量

－－五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量

－－贵金属合金分析和牌号鉴定

产品特点:

－－100瓦X射线管

－－25mm2PIN 探测器

－－多准直器配置

－－扫描分析及元素分布成像功能

－－灵活运用多种分析模型

－－清晰显示样品合格/不合格

－－超大样品舱

－－同时分析元素含量和镀层厚度

技术参数:

－－元素范围:S（16） to U（92）

－－可测镀层层数:5 层（4 层+ 底材）,可同时分析25种元素成份

－－X射线管功率:100W （50kV ａnd 2mA）微焦点钨靶X射线管

－－探测器:25mm2 PIN 电制冷固态探测器

－－滤波器/准直器:最多可包含5个初级滤波器和4个准直器规格（0.1, 0.2, 0.3, 1.27mm Ø）

－－数字脉冲处理器:4096多道数据分析功能;自动数据处理,包括死时间修正

－－电脑/显示器/系统软件

Celeron, 1.86 GHz, 40 GbHD, 512Mb RAM, 相同或更高配置

15”LCD, 1024 x 768

MicrosoftTM XP SP2

－－摄像系统:1/2” CMOS-640x480 VGA resolution

－－电源:85~130V or 215~265 V, 频率47Hz to 63Hz

－－工作环境: 10－40℃、相对湿度小于98%，无冷凝水

－－XYZ轴行程: 203 x 152 x 216 mm （8 x 6 x 8.5”）

－－最大样品尺寸

305 x 390 mm （12 x 15.4”），样品高度为 50mm （2”）

305 x 352 mm （12 x 13.9”），样品高度为 203mm （8”）

－－舱室尺寸: （W x D x H）:584 x 508 x 220mm （23 x 20 x 8.7”）

－－外型尺寸

高765mm （30.1”）

宽 700mm （27.5”）, 840mm （5.5”） with one mouse pad extended

深790mm （31.1”）, 990 mm （39”） with keyboard tray extended

－－重量: 135 kg

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