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CMI900(X射线镀层测厚仪)CMI900

CMI900(X射线镀层测厚仪)

  • 价 格: 电议
  • 型号:CMI900
  • 生 产 地:
  • 访问:205次
  • 发布日期:2009/11/2(更新日期:1900/1/1)

CMI中国有限公司

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CMI900X射线荧光镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量 ,从质量管理到成本节约有着广泛的应用。行业用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器……多个行业表面镀层厚度的测量。
  • 详细内容
  • 公司简介

CMI900X射线镀层测厚仪)

应用
CMI900X射线荧光镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的
情况下进行表面镀层厚度的测量 ,从质量管理到成本节约有着广泛的应用。
行业
用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器……多个行业表面镀层厚
度的测量。
技术参数
主要规格                           规格描述
 
X射线激发系统                   垂直照式X射线光学系统
 
                                       空冷式微聚焦型X射线管,Be
 
                                       标准靶材:Rh靶;任选靶材:WMoAg
 
                                       功率:50W(4-50kV0-1.0mA)-标准
                                       75W(4-50kV0-1.5mA)-可选
 
                                       装备有安全防射线光闸
 
                                       二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片
                                       任选
 
准直器程控交换系统            最多可同时装配6种规格的准直器
 
                                       多种规格尺寸准直器任选:
                                       -圆形,如4681220 mil
                                       -矩形,如1x22x20.5x101x102x104x16
测量斑点尺寸                     12.7mm聚焦距离时,最小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055mm
                                       (使用0.025 x 0.05 mm准直器
 
                                       12.7mm聚焦距离时,最大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm
                                       (使用0.3mm准直器
 
样品室
-样品室结构                      开槽式样品室
 
-最大样品台尺寸                610mm x 610mm
 
XY轴程控移动范围            标准:152.4 x 177.8mm
                                        还有5种规格任选
 
Z轴程控移动高度               43.18mm
 
XYZ三轴控制方式              多种控制方式任选:XYZ三轴编程控制、XY轴手动控制和Z轴编程控制、
                                         XYZ三轴手动控制
 
-样品观察系统                     高分辨彩色CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。
                                         50倍和100倍观察系统任选。)
                                         激光自动对焦功能
                                         可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 
电脑系统配置                      P4双核处理器/512M内存/160G硬盘/DVD-ROM/鼠标键盘/15寸液晶显示器
                                        
 

分析应用软件                       操作系统:WindowsXP(OEM)中文平台
分析软件包:                       SmartLink FP软件包
 
-测厚范围                          可测定厚度范围:取决于您的具体应用。
 
-基本分析功能                    采用基本参数法校正。我们将根据您的应用提供必要的校正用标准
                                        样品。
 
样品种类:                          镀层、涂层、薄膜、液体镀液中的元素含量
 
                                         可检测元素范围:Ti22 – U92
 
                                         可同时测定5/15种元素/共存元素校正
 
                                         贵金属检测,如Au karat评价
 
                                         材料和合金元素分析,
 
                                         材料鉴别和分类检测
 
                                         液体样品分析,如镀液中的金属元素含量
 
                                         多达4个样品的光谱同时显示和比较
 
                                         元素光谱定性分析
 
-调整和校正功能                 系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移
 
-测量自动化功能                 鼠标激活测量模式:“Point and Shoot”
 
                                         多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式和重复
                                         测量模式
 
                                         测量位置预览功能
 
                                         激光对焦和自动对焦功能
-样品台程控功能                 设定测量点
                                         连续多点测量
 
                                         测量位置预览
-统计计算功能                    平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、
                                         数据编号、CPCPK、控制上限图、控制下限图
                                         数据分组、X-bar/R图表、直方图
                                         数据库存储功能
                                         任选软件:统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
-系统安全监测功能               Z轴保护传感器
                                         样品室门开闭传感器
●精度高、稳定性好
●强大的数据统计、处理功能
●测量范围宽
NIST认证的标准片
●全球服务及支持

CMI(中国)有限公司是最早期的美国CMI INTERNATIONAL 在东南亚的一级销售及服务商, 主要负责东南亚地区CMI900, CMI700, CMI500系列等测厚仪的销售及维修服务. 在英国牛津仪器公司(OIMS)2001年收购了原美国CMI公司的涂镀层测厚仪的业务后, 获英国牛泽仪器公司授权, 现主要负责香港及中国大陆CMI系列仪器的销售及维修保养服务。
鄙司梁卓荣先生从事测厚仪器销售及维修逾二十年,经验丰富。他曾在德国 FISCHER 香港公司从事销售及维修保养逾十年,其后,梁先生转往 CMI服务,并经营CMI(中国)有限公司,负责香港及中国地区的销售及维修保养。
我们拥有最专业的销售工程师, 备有充足的零件库存以及资深的维修工程师为您及广大客户提供及时优质的售前/售后服务。
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