X荧光光谱仪

分析原理  
能量色散X射线荧光分析法

分析元素  
Na～U任意元素，铅（Pb）、汞（Hg）、六价铬（Cr6＋）、多溴联苯（PBB）和多溴联苯醚（PBDE）中的溴，直接分析出六价铬（Cr6＋）含量

工作条件  
工作温度：10-30℃相对湿度：≤70％电源：AC　220　V±10　％、50／60　Hz

技术指标  
检出下限（Cd／Pd）：Cd／Cr／Hg／Br≦2　ppm，Pb≦5　ppm
样品形状：任意大小，任意不规则形状
样品类型：塑胶／金属／薄膜／粉末／液体
X射线管：靶材／Mo　
管电压／5～50kV　
管电流／最大1～1000μA
照射直径：2、5、8mm　
探测器：Si（PIN）半导体
高分辨率探测器滤光片：八种新型滤光片自动选择
样品定位：微动载物平台（选配）
样品观察：30倍彩色CCD摄像机
微区分析：X光聚焦微区分析系统（选配）
软件定量分析：α系数法　　
WINDOWS　XP　数据处理：主机／PC机／内存／256　MB　以上／硬盘／40　GB　以上系统：Windows　XP正版功率：1.1kW　重量：40Kg外形尺寸：610（W）×750（D）×500（H）mm

标准配置和随机标准附件  
标准配置：
电致冷半导体探测器　　　　　　　　　　
X光光管　　　　　　　　　　
高低压电源　　　　　　　　　　
放大电路
大样品腔
高精密摄像头
a系数法软件
计算机（P4品牌机，液晶显示器）
打印机（彩色喷墨打印机）　　　　　　　　　　
测试用样品杯2个，测试用塑料薄膜数张　　　　　　　　　
标　样：欧盟标样EC680、EC681各一片、银校正标样一片。