高度计，SJ200系列数显高度计

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　　中图公司研发生产的SJ200系列高度计是是针对众多工业应用域及检测机构进行设计的大量程、高精度的测量设备。本仪器采用高精度进口光栅作为测量基准，遵循阿贝原则，按照机械稳定性和热稳定性好的原则设计而成，因此具有测量精度高、性能稳定、重复性好等特点。

　　SJ200系列高度计可广泛适用于产品计量、多点检测、测量设备监测和位置测量等众多域，对长度、间距、厚度、高度或直线位移进行快速、准确的测量。

二、 结构原理

　　本仪器包括高精度光栅装置、密珠导轨的测量杆装置、高性能的高速采样等。

　　SJ200系列高度计采用高精度光栅，即玻璃基体的增量式光栅尺作为测量基准，所以支持大量程的测量。测量基准对震动和冲击不敏感，并具有确定的稳定特性。

增量光栅尺的扫描方法为光电扫描，因此无机械接触也无磨损。电子设备对输出信号进行细分至纳米的小测量步距，从而确保个信号周期内微小位置误差。

三、 性能特点

u 测量精度高（高精度进口光栅、高精度导轨）；

u 可靠性好（经过10万次重复性实验）；

u 检测速度快：快速检测、示值稳定；

u 校准方便；

u 采用密珠导轨的测量杆能够承受很高的径向力且运动摩擦力小；

u 应用广泛，自动检测设备、手动测量或定位设备-无论是长度、间距、高度、厚度或直线位移都可以快速、准确和可靠的测量。

中图SJ217高度计，测量系统由测头、数显装置SJ101和陶瓷台架组成。系统量程范围为0~50㎜，测量精度高。可用于精密零件质量控制和计量等域。配用指示表检定软件。

u  SJ217高度计技术参数