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元器件震动可靠性试验

元器件震动可靠性试验

  • 价 格: 1元
  • 型号:
  • 生 产 地:中国大陆
  • 访问:0次
  • 发布日期:2017/8/2(更新日期:2017/8/2)

宜特(上海)检测技术有限公司

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iST宜特始创于1994年,从IC线路除错修改起家,逐年拓展新服务,包括故障分析、可靠度验证、化学分析与有线无线认证等,建构完整IC验证与分析工程服务平台。服务范围囊括IC产业供应链上中下游之客群。随着云端、物联网、车联网的快速兴起,iST不仅专注核心服务,并关注国际规范趋势,不断拓展多元性服务,建置车用电子验证平台、高速传输讯号测试与无线讯号验证,与先进工艺材料分析技术。追求精确、效率、完美的i
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  • 公司简介

器件震动测试(Vibration)

零组件震动试验(Component Vibration Test)
当系统/模块遭受到振动环境时,在电路板上之零组件往往因为固定方式或结构设计之自然频率因素将进入之震动能量作数倍放大,而且对于小质量零组件而言其体积越小则自然频率越高,因此,对于质量轻且小的IC零组件进行震动试验时,通常以高频振动为主要测试条件,对于被动零组件在规范应用上则以MIL-TSD-202G为主要规范,对于集成电路则以MIL-STD-883F为主。


被动零组件使用之试验条件

  • MIL-STD-202G Method 204D Condition B(正弦振动)
    振动频率:10 – 2KHz,0.06inch amplitude and 15g acceleration
    振动轴向:X、Y、Z三轴
    振动循环数:每轴震动12循环

  • MIL-STD-202G Method 204D Condition B(随机振动)
    振动频宽:50-100-1000-2000Hz,+6/-12dB with 7.56grms
    振动轴向与时间:X、Y、Z三轴,每轴震动3min, 15min, 1.5hour or 8h

  • 集成电路使用之试验条件

  • MIL-STD-883F Method 2005.2 Condition A(正弦疲劳震动)

振动频率:10 – 2KHz,0.06inch amplitude and 20g acceleration
振动轴向与循环数:X、Y、Z三轴,每轴震动32小时

  • MIL-STD-883F Method 2007.3 Condition A(正弦震动)
    振动频率:10 – 2KHz,0.06inch amplitude and 20g acceleration
    振动轴向:X、Y、Z三轴
    振动循环数:每循环不得小于4分钟,每轴震动4循环

对于使用于汽车(Automotive)上之零组件耐振动试验能力要求相对于消费性产品则高许多,目前汽车用电路类零件大都根据Automotive Electronics Council-(简称AEC)作为验证标准。

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关于宜特:

iST始创于1994年的台湾,主要以提供集成电路行业可靠性验证、材料分析、失效分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海,全球现已有7座实验室12个服务据点,目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。


iST宜特,国际知名且具有公信力机构IEC%2FIECQ、TAF、TUV%2FNORD、CNAS认可的实验室。始创于1994年,从IC线路除错修改起家,逐年拓展新服务,包括故障分析、可靠性验证、先进工艺材料分析、化学分析、车用电子验证平台、高速传输讯号测试与无线讯号验证等,是半导体供应链验证分析专业伙伴。身为第三方公证的分析与验证实验室,宜特秉持着诚信、精确、效率、完美为原则,为每一个细节严谨把关;用当责和专业的服务,提供客户整合技术方案,与客户一起持续创新和成长。我们很荣幸将宜特的品牌刻画在全球电子产业的历史上,一路累积了数以万计的解决方案与核心技术平台,接轨国际认证规范,定义新的准则,不断创造新的指标。这一切的全力以赴,都为了一个初衷:「不断为客户创造更大的价值」这是宜特的使命与承诺!
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