高加速寿命试验

高加速寿命试验稽核与筛选(HALT/HASA/HASS)高加速寿命试验(Highly Accelerated Life Test-HALT/HASA/HASS)加速应力试验源由(Accelerated Stress Test:简称AST/ALT)，源起于1960年代美国因应太空计划对高可靠度的需求而被发展出来。随着科技高度发展及快速变化的市场需求，过去耗时的产品验证方式已逐渐无法应付如此快速变化的市场需求进而影响到产品于市场之竞争力，因此，如何快速且有效发现产品设计缺点并于设计阶段加以修正为现今国内外各大厂之主要关键问题，亦即是HALT&HASS逐渐被重视的原因。众所皆知，产品在设计阶段进行缺点修正是极为容易的，在大量生产后进行缺点修正则困难度相对提高。微利时代若产品在市场于保固期内出现缺点则所花费成本与商誉损失将无法计算。因此1990年代后以美国为首的国际各大厂(包括hp、Dell、Cisco、Nortel、Tetronix、 Motorola等)均相继以HALT手法作为新产品开发阶段迅速找出产品设计及制造的缺点同时改善缺点已达降低保固期成本、增加产品可靠度并缩短产品上市时间。同时可利用HALT所发现之失效模式与相关资做为后续研发产品的重要依据。目前有航空电子、汽车及信息等高科技产业皆已投入HALT 领域之测试，并且已有相当成效。高加速寿命试验( Highly Accelerated Life Testing –简称HALT)高加速寿命试验系利用渐进提升应力方式施加于产品，施加应力种类包括六自由度振动、高低温、快速温度循环、复合式应力、电力开关循环、电压边际及频率边际测试等。高加速应力稽核与筛选(HASA/HASS )根据美国GE的统计调查，对于全新设计的产品在市场出现失效的比重分配发现因设计缺点造成失效比例占33%，零件选用不当占34%，制程缺点则占33%。Honeywell对于成熟的产品进行市场失效统计调查发现零件不良造成失效比例占60%，制程缺点则占40%。因此控制量产时零件与生产制程变异才可有效控制RMA比例。一般而言，当产品在市场出现失效时，通常已经数百或数千产品已经投入市场。因此，利用产品在设计阶段执行HALT的数据经由验证决定适当应力水平并转换为HASA/HASS手法导入量产质量控制。HALT/HASS效益利用高加速环境应力可快速将产品潜在缺点激发出来并于设计阶段加以修正作为产品量产时之高加速应力筛选(HASS)及高加速应力稽核(Highly Accelerated Stress Audit)规格制定之参考降低产品在市场之失效率及减少维修成本建立产品设计能力数据库，以作为研发依据并可缩短设计开发时间机台规格Temperature：-100℃ to +200℃Temperature change rate：>50℃/minutesAxes excited：3 Linear, 3 RotationalVibration frequency range： 2 Hz To 10 KHzVibration level：Up to 50 GRMSInside dimension: 136(W)*137(D)*91&139(H)/cmVibration table : 122(W)*122(D)/cm关于宜特：iST始创于1994年的台湾，主要以提供集成电路行业可靠性验证、失效分析、材料分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海，全球现已有7座实验室12个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。