菲希尔油缸镀层测厚仪 特点

• 用途广泛的镀层厚度测量仪，包括金层测厚、银层测厚和化金厚度等。
• 通过组合可选的高压和滤片，可以对较薄的镀层（如50 nm Au 或 100 μm Sn）和较厚的镀层进行同样效果的测量.
• 配有的微聚焦管，可以测量100 μm大小的微小测量点。
• 比例计数器可实现数千cps（每秒计数率）的高计数率。
• 从下至上的射线方向，从而可以快速简便的放置样品。
• 底部C型开槽的大容量测量舱  。

菲希尔油缸镀层测厚仪 典型应用领域

• 测量线路板工业中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的镀层
• 电子行业中接插件和触点上的镀层
• 装饰性镀层Cr/Ni/Cu/ABS
• 电镀镀层，如大规模生产零件（螺栓和螺母）上的防腐蚀保护层Zn/Fe，ZnNi/Fe
• 珠宝和钟表工业。
• 测量电镀液中金属成分含量，例如金层测厚、银层测厚。
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  它的出现解决了分析和测量日趋小型化的电子部件，包括线路板，芯片和连接器等带来的挑战。这种创新技术的，目前正在申请专利的X-射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的辐射强度，这就可以在小到几?reg;微米的结构上进行测量。

     在经济上远远优于多元毛细透镜的Fischer专有X-射线光学设计使得能够在非常精细的结构上进行厚度测量和成分分析。XDVM-µ可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。

     具有强大功能的X-射线XDVM-µ带WinFTM® V6 软件可以分析包含在金属镀层或合金镀层中多达24种独立元素的多镀层的厚度和成分。