探针Probe测试

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型号：
生产地：中国大陆
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发布日期：2017/8/23(更新日期：2017/8/23)

宜特(上海)检测技术有限公司

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iST宜特始创于1994年，从IC线路除错修改起家，逐年拓展新服务，包括故障分析、可靠度验证、化学分析与有线无线认证等，建构完整IC验证与分析工程服务平台。服务范围囊括IC产业供应链上中下游之客群。随着云端、物联网、车联网的快速兴起，iST不仅专注核心服务，并关注国际规范趋势，不断拓展多元性服务，建置车用电子验证平台、高速传输讯号测试与无线讯号验证，与先进工艺材料分析技术。追求精确、效率、完美的i

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探针Probe测试,上海探针测试公司,上海探针测试,宜特检测Probe测试在显微镜底下，利用探针搭接于IC内部线路，使其可以外接各类设备，以便量测或输入讯号。宜特科技目前拥有的探针与应用相关讯息如下:探针分为硬针、软针及Active Probe。硬针之针尖主要规格为1 μm及5 μm；软针之针尖为 < 1 μm，主要应用在高频电路及FIB probing PAD及Active Probe(200 MHz)。当分析样品需使用如EMMI / OBIRCH / TLP / ESD / Curve tracer等仪器却无无适当治具或socket可用时，可由点针方式提供讯号输入输出。Wafer可搭配Probe card做各项测试。实验室另架设有 Laser system ,可做Laser cut。关于宜特：iST始创于1994年的台湾，主要以提供集成电路行业可靠性验证、失效分析、材料分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海，全球现已有7座实验室12个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室 $n

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