CIT-3000SMP便携式X荧光分析仪

CIT-3000SMP便携式X荧光分析仪
简介:CIT-3100SMP能量色散X荧光分析仪能够检测从钠到铀的所有元素，检测量：1ppm～99.99％ 。
价格:面议

CIT-3000SMP便携式X荧光分析仪 详细说明:
1、 性能参数及技术指标
分析元素范围：Na-U；
元素含量分析范围：0.0001%-99.99%（采用1024道多道分析器）；
采用美国航天技术Si （PIN）半导体探测器计数，能量分辨率极高，配合专利的数字脉冲处理技术，分辨率可优于139eV；
测量范围：2－30KeV；
测量下限：Cd：15ppm；Pb、Hg：10ppm；Br：10ppm；Cr：30ppm；（以塑胶标样为例）；
精确的RoHS测试模式；
测量物质状态：固体、粉末、液体均可检测，制样简单；
校正方式：采用欧盟RoHS 塑胶标样校准数据；
重复性：<0.1%；
稳定性：< 0.01%；
高压：5kV-40kV（激发源为进口40KV-钨靶微型X射线管）；
管流：5μA-200μA；
整机能量分辨率：150±5eV；
检测时间：120S～240S；
整机功耗：4W；
仪器重量：3Kg；
CIT-3000SMP便携式X荧光分析仪 一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高；全中文应用软件，操作简单，测量时间短；同时配备PC机，分析仪通过无线蓝牙技术可单独和PC进行通信测试，方便携带和使用；
适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）和化合物痕量检测及钢铁、铝业、水泥、有色、玻璃、耐火材料等行业全元素的快速检测；
2 、CIT-3000SMP便携式X荧光分析仪 仪器硬件配置
采用进口的美国航天技术的Si（PIN）半导体探测器系列
采用独特专利数字脉冲采集电路及专利的电源管理技术
采用进口的X光管
采用进口的专用的X光管高压电源
采用精密的系统控制电路和数字处理电路
采用专有的分析算法软件模块V2.0A
配备专业的RoHS测试模式
配备Dell的Intel双核CPU电脑（1G内存、160G硬盘）（选配）
配备Dell 19”宽屏高清液晶显示器（选配）
配备USB2.0 蓝牙适配器
配备高档的激光打印机
配备专用的制样机
配备专用的测试薄膜、测试样杯
配备专用的测试标样一套