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BKTEM-Dx热电材料性能测试仪
关键词:热电材料,Seebeck系数,电导率, 电阻率,V-1装置
产品介绍:
BKTEM-Dx热电材料性能测试仪是我国热电材料的设备,不仅可以用于块体材料同时也可以用于薄材料的测试.对于热电材料的研究,热电性能测试是不可或缺的试验数据。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以精确地测定半导体材料、金属材料及其他热电材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系数及电导率。主要原理和特点如下:
该装置由温度可控的电阻炉和控制温度用的微型加热源构成。通过PID程序控温,采用四点法的方式精确测定半导体材料及热电材料的Seebeck系数及电导率、电阻率。试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。
一、适用范围:
1、精确地测定半导体材料、金属材料及其他热电(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康铜、镍、钨等金属,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系数及电导率、电阻率。
3、块体和薄膜材料测均可以测试。
4、试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。
5、拥有自身利分析软件,独立分析,过程自动控制,界面友好。
6、国内高等院校材料系研究或是热电材料生产单位。
7、汽车和燃油、能源利用效率、替代能源域、热电制冷.
8、很多其他工业和研究域-每年都会诞生新的应用域。
二、技术特点:
·解决高温下温控精度不准的问题,静态法测量更加直观的了解产品热电材料的真正表征物理属性。
· 温度检测可采用J、K型热电偶,降低测试成本。
·试样采用独特的焊偶机构,保证接触电阻小以及测量结果的高重现性。
· 每次可测试1-3个样品.
· 采用高数据采集技术,避免电路板数据采集技术带来的干扰误差,可控温场下同步测量赛贝克系数和电阻率。
三:主要技术:
测量温度 室温-600℃
同时测试样品数量 1个
测量功能 赛贝克系数和电阻率,薄膜材料的Seebeck系数及电导率
控温精度 0.5K
测量原理 塞贝克系数:静态直流电;电阻系数:四端法
测量精度 塞贝克系数:<±7%;电阻系数:<±10%
样品尺寸 块体方条形:2-3×2-3 mm×10-23mm长,薄膜材料:≥50 nm
热电偶导距 ≥6 mm
电 流 0 to 160 mA
气 氛 高纯度氩气
加热电相数/电压 单相,220V,
图1 单一样品测试系统原理示意图
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