UPA X射线测厚仪标准片镀层标准片膜厚片测厚仪标准片
品牌:UPA 产地:美国
创思达科技总代理UPA一系列标准片,标准片通过A2LA(American Association for Laboratory Accreditation)认证,UPA是美国原厂制作标准片的专业认证公司,其专门为仪器大厂如Fischer、Oxford、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生产制作标准样品。
应用:适用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray(X射线测厚仪)、 Beta-ray及磁感式与涡电流等多种原理之各种规格与尺寸。
特色:标准片A2LA校正认证,质量精良,精度高、稳定性好
X-Ray、 Beta-Ray、磁感式、涡电流式专用标准片
测厚仪标准片又名膜厚仪校准片,专业用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品,根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系,来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品,以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。
测厚仪标准片一般分为单镀层片,双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。如:
单镀层:Ag/xx,双镀层:Au/Ni/xx,三镀层:Au/Pd/Ni/xx,合金镀层:Sn-Pb/xx,化学镀层:Ni-P/xx。(所有标准片都附有NIST认证证书)
我们可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向美国工厂定做合格的标准片,并附有标准片厚度值证书.
我们除了可以提供测厚仪标准片之外,还可以提供β射线测厚仪的标准片和库仑测厚仪的标准药水。并有X射线测厚仪、β射线测厚仪、磁感应测厚仪、涡电流测厚仪、库仑测厚仪等出售。
创思达科技是一精密测试仪器代理商,为顾客提供最优质的产品及服务。 我公司在中国地区代理韩国MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射线测厚仪及美国Thermo第二代光学准直器X荧光测量仪。此两种仪器主要用于涂镀层厚度的测量,而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。欢迎随时来电咨询或亲临我司测试及参观!!!我们将竭力为您服务。
创思 达 科 技 简 介
深圳市创思达科技有限公司创建于2006年,总部位于改革开放前沿的深圳市,在国家的改革开放政策和各级党委、政府、社会各界的关心、支持和帮助下,创思达科技如沐春风,如鱼得水,业务发展突飞猛进,近年来均保持每年30%以上增长的发展速度。现如今,创思达科技的综合实力稳居仪器仪表行业前列。
由于公司始终坚持诚信经营、按章纳税的经营原则,凭借自身强大的技术后盾优质的产品和良好的客户服务信誉,在各生产厂家取得了良好的信任和合作关系,同时建立并完善了我们的销售网络体系。
公司主营PCB及电镀行业的精密检测测量仪器仪表及辅助材料,主要产品:XRF-2000 X射线镀层测厚仪、UPA镀层标准片、mm610孔铜测厚仪、mm125铜箔测厚仪、mm615面铜测厚仪、mm805桌上型双功能孔铜/面铜测厚仪、WALCHEM自动加药控制系统(WPH410 PH/ORP控制器、WCU镀铜/蚀铜控制器、WNI镀镍控制器、WEC导电率控制器、WCT/WDT冷却塔控制器、WBL锅炉控制器、WCM400冷凝控制器、Web Master ONE在线分析过程控制器)、ECI电镀添加剂分析系统CVS、500M SMDⅡ离子污染测试仪、精密金相切割机、研磨/抛光机、金相显微镜、砂纸、水晶胶、抛光绒布、抛光粉、抛光液、抛光膏、铜箔剥离强度测试仪、凝胶固化时间测试仪、气压式板厚测量仪、树脂流动性测试系统、线宽线距测量仪、水质分析仪、污水测试包、Omega温湿度记录仪、激光粒子计数器、安规耐压绝缘测试仪、焊锡炉等一百多种产品。
自公司成立以来,本着“诚信、务实、创新”的精神,以“始于客户的需求,终于客户的满意”为宗旨,致力于为PCB 厂商、电镀行业、科研机构、半导体生产、微电子、光电子、光通讯等电子行业提供优质的产品和服务。使用我们的产品可以监控您所使用的材料、进行失效分析、控制成本、以及进行基础材料研究。
我们的经营理念是:
1.我们以公平的价格提供最高质量的仪器。
2.为顾客提供优质的服务和极好的最适合的设备。
3.顾客提出的建议和新想法,将被我们采纳,并作为我们未来的事务。
4.我们的目标和战略是与企业建立长期并且连续性的战略合作伙伴。
公司以先进的技术和理念、完善的售后服务体系,追求用户满意度作为第一目标;将创新协作作为长久发展的策略。以精诚合作的态度,开拓进取的精神,期待着能与您携手并进,共创美好明天!欢迎国内外客商来人、来函洽谈业务,愿我们精诚合作,共创辉煌。