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ICP-MS测试_ICP-MS检测_电感耦合等离子体质谱

ICP-MS测试_ICP-MS检测_电感耦合等离子体质谱

  • 价 格: 电议
  • 型号:
  • 生 产 地:中国大陆
  • 访问:19次
  • 发布日期:2017/10/19(更新日期:2017/10/19)

广州化联质量检测技术有限公司

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产品展示

测试:XPS SEM ICP GPC XRD TEM BET TPD 压汞 吡啶红外(py-ir)XRF TG-DSC GCMS PL 紫外 红外 元素分析仪 拉曼
  • 详细内容
  • 公司简介
 原理

测定每种化学元素的气态原子或离子受激后所发射的特征光谱的波长及强度来确定物质中元素组成

和含量。用于微量元素的分析,可分析的元素为大多数的金属和硅、磷、硫等少量的非金属。

仪器技术参数

灵敏度:低质量数 Li(7):50 Mcps/ppm;中质量数 Y(89):160 Mcps/ppm7700x);高质量

 Tl(205):80Mcps/ppm(7700x)

检测限:低质量数Be(9):0.5ppt;中质量数In(115):0.1ppt;高质量数Bi(209):0.1ppt

氧化物干扰: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)

双电荷干扰: Ce2+/Ce+:3.0

同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%

质谱范围:2-260 amu

丰度灵敏度:低质量端:5x10-7;高质量端: 1x10-7 

送样要求

固体样品,需提供100mg以上样品,待测元素的含量必须小于0.1%,样品应烘干并磨碎至200目以

下。液体样品,需提供2ml以上样品,待测元素的浓度必须小于ppm级别,并注明介质种类(何种溶

剂、酸、碱种类)。

尽可能注明样品的主要成份及待测元素的预期含量。确保样品酸度小于5%、含盐度小于0.02%、有

机物浓度小于3%

  金、铂、铌、钽、钯等稀有金属矿石的工业品位(<0.05%)很低,可以用ICP-MS测试。其余金属

矿物则不宜用ICP-MS来测试含矿元素(可送AAS或者XRF测试)。

应用领域

环境试样:如淡水、海水、岩石、土壤、污泥、固液废弃物等

半导体的各种材料、试剂的痕量污染物分析:如试剂中痕量金属元素分析,高纯金属的杂质元素分析等.

食品分析:如奶粉、烟、酒、饮料、油、大米、小麦、肉类、鱼类、火锅底料等

其他分析:纺织品、化妆品、玻璃镀层,陶瓷釉料,橡胶塑料等物质中的金属元素分析.

常见适用标准

GB/T 15072.7-2008GB/T 6730.63-2006GB/T 23942-2009GB/T8538-2008

 原理

测定每种化学元素的气态原子或离子受激后所发射的特征光谱的波长及强度来确定物质中元素组成

和含量。用于微量元素的分析,可分析的元素为大多数的金属和硅、磷、硫等少量的非金属。

仪器技术参数

灵敏度:低质量数 Li(7):50 Mcps/ppm;中质量数 Y(89):160 Mcps/ppm7700x);高质量

 Tl(205):80Mcps/ppm(7700x)

检测限:低质量数Be(9):0.5ppt;中质量数In(115):0.1ppt;高质量数Bi(209):0.1ppt

氧化物干扰: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)

双电荷干扰: Ce2+/Ce+:3.0

同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%

质谱范围:2-260 amu

丰度灵敏度:低质量端:5x10-7;高质量端: 1x10-7 

送样要求

固体样品,需提供100mg以上样品,待测元素的含量必须小于0.1%,样品应烘干并磨碎至200目以

下。液体样品,需提供2ml以上样品,待测元素的浓度必须小于ppm级别,并注明介质种类(何种溶

剂、酸、碱种类)。

尽可能注明样品的主要成份及待测元素的预期含量。确保样品酸度小于5%、含盐度小于0.02%、有

机物浓度小于3%

  金、铂、铌、钽、钯等稀有金属矿石的工业品位(<0.05%)很低,可以用ICP-MS测试。其余金属

矿物则不宜用ICP-MS来测试含矿元素(可送AAS或者XRF测试)。

应用领域

环境试样:如淡水、海水、岩石、土壤、污泥、固液废弃物等

半导体的各种材料、试剂的痕量污染物分析:如试剂中痕量金属元素分析,高纯金属的杂质元素分析等.

食品分析:如奶粉、烟、酒、饮料、油、大米、小麦、肉类、鱼类、火锅底料等

其他分析:纺织品、化妆品、玻璃镀层,陶瓷釉料,橡胶塑料等物质中的金属元素分析.

常见适用标准

GB/T 15072.7-2008GB/T 6730.63-2006GB/T 23942-2009GB/T8538-2008

原理

测定每种化学元素的气态原子或离子受激后所发射的特征光谱的波长及强度来确定物质中元素组成

和含量。用于微量元素的分析,可分析的元素为大多数的金属和硅、磷、硫等少量的非金属。

仪器技术参数

灵敏度:低质量数 Li(7):50 Mcps/ppm;中质量数 Y(89):160 Mcps/ppm7700x);高质量

 Tl(205):80Mcps/ppm(7700x)

检测限:低质量数Be(9):0.5ppt;中质量数In(115):0.1ppt;高质量数Bi(209):0.1ppt

氧化物干扰: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)

双电荷干扰: Ce2+/Ce+:3.0

同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%

质谱范围:2-260 amu

丰度灵敏度:低质量端:5x10-7;高质量端: 1x10-7 

送样要求

固体样品,需提供100mg以上样品,待测元素的含量必须小于0.1%,样品应烘干并磨碎至200目以

下。液体样品,需提供2ml以上样品,待测元素的浓度必须小于ppm级别,并注明介质种类(何种溶

剂、酸、碱种类)。

尽可能注明样品的主要成份及待测元素的预期含量。确保样品酸度小于5%、含盐度小于0.02%、有

机物浓度小于3%

  金、铂、铌、钽、钯等稀有金属矿石的工业品位(<0.05%)很低,可以用ICP-MS测试。其余金属

矿物则不宜用ICP-MS来测试含矿元素(可送AAS或者XRF测试)。

应用领域

环境试样:如淡水、海水、岩石、土壤、污泥、固液废弃物等

半导体的各种材料、试剂的痕量污染物分析:如试剂中痕量金属元素分析,高纯金属的杂质元素分析等.

食品分析:如奶粉、烟、酒、饮料、油、大米、小麦、肉类、鱼类、火锅底料等

其他分析:纺织品、化妆品、玻璃镀层,陶瓷釉料,橡胶塑料等物质中的金属元素分析.

常见适用标准

GB/T 15072.7-2008GB/T 6730.63-2006GB/T 23942-2009GB/T8538-2008

 原理

测定每种化学元素的气态原子或离子受激后所发射的特征光谱的波长及强度来确定物质中元素组成

和含量。用于微量元素的分析,可分析的元素为大多数的金属和硅、磷、硫等少量的非金属。

仪器技术参数

灵敏度:低质量数 Li(7):50 Mcps/ppm;中质量数 Y(89):160 Mcps/ppm7700x);高质量

 Tl(205):80Mcps/ppm(7700x)

检测限:低质量数Be(9):0.5ppt;中质量数In(115):0.1ppt;高质量数Bi(209):0.1ppt

氧化物干扰: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)

双电荷干扰: Ce2+/Ce+:3.0

同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%

质谱范围:2-260 amu

丰度灵敏度:低质量端:5x10-7;高质量端: 1x10-7 

送样要求

固体样品,需提供100mg以上样品,待测元素的含量必须小于0.1%,样品应烘干并磨碎至200目以

下。液体样品,需提供2ml以上样品,待测元素的浓度必须小于ppm级别,并注明介质种类(何种溶

剂、酸、碱种类)。

尽可能注明样品的主要成份及待测元素的预期含量。确保样品酸度小于5%、含盐度小于0.02%、有

机物浓度小于3%

  金、铂、铌、钽、钯等稀有金属矿石的工业品位(<0.05%)很低,可以用ICP-MS测试。其余金属

矿物则不宜用ICP-MS来测试含矿元素(可送AAS或者XRF测试)。

应用领域

环境试样:如淡水、海水、岩石、土壤、污泥、固液废弃物等

半导体的各种材料、试剂的痕量污染物分析:如试剂中痕量金属元素分析,高纯金属的杂质元素分析等.

食品分析:如奶粉、烟、酒、饮料、油、大米、小麦、肉类、鱼类、火锅底料等

其他分析:纺织品、化妆品、玻璃镀层,陶瓷釉料,橡胶塑料等物质中的金属元素分析.

常见适用标准

GB/T 15072.7-2008GB/T 6730.63-2006GB/T 23942-2009GB/T8538-2008

 原理

测定每种化学元素的气态原子或离子受激后所发射的特征光谱的波长及强度来确定物质中元素组成

和含量。用于微量元素的分析,可分析的元素为大多数的金属和硅、磷、硫等少量的非金属。

仪器技术参数

灵敏度:低质量数 Li(7):50 Mcps/ppm;中质量数 Y(89):160 Mcps/ppm7700x);高质量

 Tl(205):80Mcps/ppm(7700x)

检测限:低质量数Be(9):0.5ppt;中质量数In(115):0.1ppt;高质量数Bi(209):0.1ppt

氧化物干扰: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)

双电荷干扰: Ce2+/Ce+:3.0

同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%

质谱范围:2-260 amu

丰度灵敏度:低质量端:5x10-7;高质量端: 1x10-7 

送样要求

固体样品,需提供100mg以上样品,待测元素的含量必须小于0.1%,样品应烘干并磨碎至200目以

下。液体样品,需提供2ml以上样品,待测元素的浓度必须小于ppm级别,并注明介质种类(何种溶

剂、酸、碱种类)。

尽可能注明样品的主要成份及待测元素的预期含量。确保样品酸度小于5%、含盐度小于0.02%、有

机物浓度小于3%

  金、铂、铌、钽、钯等稀有金属矿石的工业品位(<0.05%)很低,可以用ICP-MS测试。其余金属

矿物则不宜用ICP-MS来测试含矿元素(可送AAS或者XRF测试)。

应用领域

环境试样:如淡水、海水、岩石、土壤、污泥、固液废弃物等

半导体的各种材料、试剂的痕量污染物分析:如试剂中痕量金属元素分析,高纯金属的杂质元素分析等.

食品分析:如奶粉、烟、酒、饮料、油、大米、小麦、肉类、鱼类、火锅底料等

其他分析:纺织品、化妆品、玻璃镀层,陶瓷釉料,橡胶塑料等物质中的金属元素分析.

常见适用标准

GB/T 15072.7-2008GB/T 6730.63-2006GB/T 23942-2009GB/T8538-2008

 原理

测定每种化学元素的气态原子或离子受激后所发射的特征光谱的波长及强度来确定物质中元素组成

和含量。用于微量元素的分析,可分析的元素为大多数的金属和硅、磷、硫等少量的非金属。

仪器技术参数

灵敏度:低质量数 Li(7):50 Mcps/ppm;中质量数 Y(89):160 Mcps/ppm7700x);高质量

 Tl(205):80Mcps/ppm(7700x)

检测限:低质量数Be(9):0.5ppt;中质量数In(115):0.1ppt;高质量数Bi(209):0.1ppt

氧化物干扰: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)

双电荷干扰: Ce2+/Ce+:3.0

同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%

质谱范围:2-260 amu

丰度灵敏度:低质量端:5x10-7;高质量端: 1x10-7 

送样要求

固体样品,需提供100mg以上样品,待测元素的含量必须小于0.1%,样品应烘干并磨碎至200目以

下。液体样品,需提供2ml以上样品,待测元素的浓度必须小于ppm级别,并注明介质种类(何种溶

剂、酸、碱种类)。

尽可能注明样品的主要成份及待测元素的预期含量。确保样品酸度小于5%、含盐度小于0.02%、有

机物浓度小于3%

  金、铂、铌、钽、钯等稀有金属矿石的工业品位(<0.05%)很低,可以用ICP-MS测试。其余金属

矿物则不宜用ICP-MS来测试含矿元素(可送AAS或者XRF测试)。

应用领域

环境试样:如淡水、海水、岩石、土壤、污泥、固液废弃物等

半导体的各种材料、试剂的痕量污染物分析:如试剂中痕量金属元素分析,高纯金属的杂质元素分析等.

食品分析:如奶粉、烟、酒、饮料、油、大米、小麦、肉类、鱼类、火锅底料等

其他分析:纺织品、化妆品、玻璃镀层,陶瓷釉料,橡胶塑料等物质中的金属元素分析.

常见适用标准

GB/T 15072.7-2008GB/T 6730.63-2006GB/T 23942-2009GB/T8538-2008

 原理

测定每种化学元素的气态原子或离子受激后所发射的特征光谱的波长及强度来确定物质中元素组成

和含量。用于微量元素的分析,可分析的元素为大多数的金属和硅、磷、硫等少量的非金属。

仪器技术参数

灵敏度:低质量数 Li(7):50 Mcps/ppm;中质量数 Y(89):160 Mcps/ppm7700x);高质量

 Tl(205):80Mcps/ppm(7700x)

检测限:低质量数Be(9):0.5ppt;中质量数In(115):0.1ppt;高质量数Bi(209):0.1ppt

氧化物干扰: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)

双电荷干扰: Ce2+/Ce+:3.0

同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%

质谱范围:2-260 amu

丰度灵敏度:低质量端:5x10-7;高质量端: 1x10-7 

送样要求

固体样品,需提供100mg以上样品,待测元素的含量必须小于0.1%,样品应烘干并磨碎至200目以

下。液体样品,需提供2ml以上样品,待测元素的浓度必须小于ppm级别,并注明介质种类(何种溶

剂、酸、碱种类)。

尽可能注明样品的主要成份及待测元素的预期含量。确保样品酸度小于5%、含盐度小于0.02%、有

机物浓度小于3%

  金、铂、铌、钽、钯等稀有金属矿石的工业品位(<0.05%)很低,可以用ICP-MS测试。其余金属

矿物则不宜用ICP-MS来测试含矿元素(可送AAS或者XRF测试)。

应用领域

环境试样:如淡水、海水、岩石、土壤、污泥、固液废弃物等

半导体的各种材料、试剂的痕量污染物分析:如试剂中痕量金属元素分析,高纯金属的杂质元素分析等.

食品分析:如奶粉、烟、酒、饮料、油、大米、小麦、肉类、鱼类、火锅底料等

其他分析:纺织品、化妆品、玻璃镀层,陶瓷釉料,橡胶塑料等物质中的金属元素分析.

常见适用标准

GB/T 15072.7-2008GB/T 6730.63-2006GB/T 23942-2009GB/T8538-2008

 

 


本公司是一家专业从事化工材料领域的分析检测、技术咨询及技术服务的公司,我们联合多所国家科研机构,目前公司拥有教授级高级工程师、博士及在外企研究员所组成的强大科研队伍。它面向企业、高校、科研院所及社会各行,为广大客户提供专业、高效、实惠的分析测试、技术咨询等服务,公司提供的专业、高效、实惠的分析测试服务可以帮助客户节省昂贵仪器费用,管控产品质量,分析产品配方及加速产品研发。 测试服务项目表1、XPS(可做刻蚀XPS;UPS价带谱)2、TEM(普通形貌、高分辨透射电镜;可测磁性样品TEM)3、SEM(场发射扫描电镜;可测磁性样品SEM,可喷金)4、BET(可测介孔、微孔材料比表面、孔容及孔径分布等全套分析,也可做水蒸汽、有机气体等蒸汽吸附)5、XRD(广角XRD、小角XRD、掠入射XRD及原位XRD均可)6、AFM(原子力显微镜:块体、粉末及液体样品均可做)7、EPMA(电子探针测试,点、线、面均可测试)8、TPD(NH3-TPD,CO2-TPD,CO-TPD)9、TPR(H2-TPR)10、TG-DSC(低温、高温均可测试、有多种气氛),TG-DTA11、PPMS(可测变温电阻率RT曲线等)12、MPMS(VSM可测磁带回线MH曲线、磁化率曲线MT曲线)13、ICP(ICP-MS,ICP-OES,可精确测量多种元素含量,可达ppb级,)14、ESR(ESR.EPR电子顺磁测试,低温、常温、高温ESR均可做)15、介电常数(变温介电常数)、热电性能(塞贝克系数等)、铁电性能测试16、CLSM 激光共聚焦扫描显微镜17、3D轮廓仪,台阶仪18、马尔文激光粒度仪(干法、湿法)19、GPC(THF,DMF,氯仿相GPC,水相GPC,高温GPC)20、压汞测试21、TG-IR22、GC-MS/LCMS23、GPC(THF,DMF,CHCL3,水相)24、核磁25、质谱26、元素分析(CHNSO)27、Ramnm拉曼光谱28、纳米粒度仪29、TOC测试仪30、水分检测仪还可提供:导热系数、热膨胀系数、塞贝克系数、电导、固体紫外(紫外漫反射),红外(有ATR配件),荧光PL、拉曼(多种激发波长)等测试 联系方式: 张工 TEL:18814370534 QQ:180161075
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