请登录 免费注册

热搜:通用机械五金工具仪器仪表安防监控

频道
通用机械 电子元器件 行业设备 五金工具 电工电气 仪器仪表 安防监控 专用汽车 照明灯具 化工原料 涂料 塑胶 建筑原料 皮革 冶金
相关标签
您最近阅读过的产品
产品展示

您的位置:首页 > 产品展厅 >  仪器仪表 >  专用仪器仪表 >  其他专用仪器仪表 >  JKZC-ST4型半导体材料数字式四探针测试仪

JKZC-ST4型半导体材料数字式四探针测试仪

JKZC-ST4型半导体材料数字式四探针测试仪

  • 价 格: 电议
  • 型号:
  • 生 产 地:中国大陆
  • 访问:20次
  • 发布日期:2018/6/6(更新日期:2024/9/27)

北京精科智创科技发展有限公司

  • 提示:如果您未采购满意的产品,请在网页头部搜索更优质的产品
产品展示

JKZC-ST4型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。
  • 详细内容
  • 公司简介

JKZC-ST4型半导体材料数字式四探针测试仪

关键词:电阻,电阻率,四探针,半导体

 

一、产品概述

    JKZC-ST4型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。

仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。

仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

二、符合:

1、符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、

2、符合GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》

3、符合美国 A.S.T.M 标准

二、产品应用:

1、测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;

2、可测柔性材料导电薄膜电阻率/方阻

3、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)电阻率/方阻

4、纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻

5、电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量

6、可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻

二、基本技术参数

1、  测量范围

       阻:1×10-4~2×105 Ω   ,分辨率:1×10-5~1×102 Ω

   电阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm

     阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□

   静压电系数:0-2000PC/N(另配)

2、测量方式:自动或手动

3、基本精度:±0.1/%

4、四探针探头:

   (1)碳化钨探针:Φ0.5mm,直线探针间距1.0mm,探针压力: 0~2kg 可调

   (2)薄膜方阻探针:Φ0.7mm,直线或方形探针间距2.0mm,探针压力: 0~0.6kg 可

5. 电源:198V -242V(AC),47.5Hz -63Hz

6、操作环境:  0°C -40°C ,≤90%RH

7、外形尺寸:200mm(长)×220 mm(宽)×100mm(高)

8、数据传输方式;USB

9、软件方式:人性化分析软件界面,数据自动生成

10、可以配合压电材料的静压电d33系数:0-2000PC/N

 

 

     
                      分析软件(一)





JKZC-ST4型半导体材料数字式四探针测试仪

关键词:电阻,电阻率,四探针,半导体

 

一、产品概述

    JKZC-ST4型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。

仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。

仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

二、符合:

1、符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、

2、符合GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》

3、符合美国 A.S.T.M 标准

二、产品应用:

1、测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;

2、可测柔性材料导电薄膜电阻率/方阻

3、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)电阻率/方阻

4、纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻

5、电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量

6、可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻

二、基本技术参数

1、  测量范围

       阻:1×10-4~2×105 Ω   ,分辨率:1×10-5~1×102 Ω

   电阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm

     阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□

   静压电系数:0-2000PC/N(另配)

2、测量方式:自动或手动

3、基本精度:±0.1/%

4、四探针探头:

   (1)碳化钨探针:Φ0.5mm,直线探针间距1.0mm,探针压力: 0~2kg 可调

   (2)薄膜方阻探针:Φ0.7mm,直线或方形探针间距2.0mm,探针压力: 0~0.6kg 可

5. 电源:198V -242V(AC),47.5Hz -63Hz

6、操作环境:  0°C -40°C ,≤90%RH

7、外形尺寸:200mm(长)×220 mm(宽)×100mm(高)

8、数据传输方式;USB

9、软件方式:人性化分析软件界面,数据自动生成

10、可以配合压电材料的静压电d33系数:0-2000PC/N

 



北京精科智创科技发展有限公司是一家主要是从事精密仪器设备,安全控制设备,计量检测设备,科学研究设备,3D打印及空间技术的研发和销售的高科技公司,我们将同国内单位和高等院校合作,服务于国内和国外广大客户,我们将提供一流产品,优质服务,共同开拓进取。
产品留言

公司同类产品

版权说明

凡本网注明"来源:易推广"的所有作品,版权均属于易推广,未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。已获本网授权的作品,应在授权范围内

使用,并注明"来源:易推广"。违者本网将追究相关法律责任。

本网凡注明"来源:xxx(非本网)"的作品,均转载自其它媒体,转载目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责,且不承担此 类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如其他媒体、网站或个人从本网下载使用 ,必须保留本网注明的"稿件来源",并自负版权等法律责任。

如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起两周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。

易推广页面显示产品信息均由企业自主发布,信息内容真实性、准确性与合法性由相关企业负责,易推广对此不承担任何责任,如遇非法或侵权信息欢迎监督,请联系QQ:1273397930或者发邮件至:1273397930@qq.com,如有确实证件证明属实,本站将对其删除处理,谢谢!

本信息由注册会员:北京精科智创科技发展有限公司发布并且负责版权等法律责任。

最新产品 - 今日最热门报道-分类浏览 - 每日产品
  • 易推广客服微信